[发明专利]一种基于原子力显微镜测试集料表面粗糙度的方法在审
| 申请号： | 201810016670.0 | 申请日： | 2018-01-08 |
| 公开（公告）号： | CN108333389A | 公开（公告）日： | 2018-07-27 |
| 发明（设计）人： | 季节;索智;郭晨伟;翟鹏;许鹰;徐世法 | 申请（专利权）人： | 北京建筑大学 |
| 主分类号： | G01Q60/24 | 分类号： | G01Q60/24 |
| 代理公司： | 北京驰纳智财知识产权代理事务所(普通合伙) 11367 | 代理人： | 单晶 |
| 地址： | 100044*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM）测试集料表面粗糙度的测试方法。包括如下步骤：1）制备集料试件。2）利用AFM中的轻敲（Tapping）模式对集料表面粗糙度进行测试。3）将测试所得到的三维坐标信息通过Nanoscape Analysis导出。4）对集料表面粗糙度的轮廓算数平均偏差Ra进行有效性验证。5）采用SPSS软件中的独立样本t检验集料表面粗糙度的区分性。本发明为一种基于AFM镜测试集料表面粗糙度的方法，AFM作为纳米科技研究中的主要工具，应用在新一代微电子芯片、光学系统、新材料以及生物工程等领域，采用AFM技术测试集料表面粗糙度的研究目前相对较少，对集料表面粗糙度的分析十分有限，而对于在集料表面粗糙度的研究，研究者大部分采用的是分形理论。 | ||
| 搜索关键词： | 表面粗糙度 集料 测试集 原子力显微镜 测试 三维坐标信息 微电子芯片 有效性验证 独立样本 分形理论 光学系统 技术测试 纳米科技 平均偏差 制备集料 区分性 新一代 导出 试件 算数 研究 生物工程 应用 分析 | ||
【主权项】：
1.一种基于原子力显微镜测试集料表面粗糙度的方法，通过原子力显微镜对集料表面粗糙度进行测试，将测试所得到的三维坐标信息导出；对集料表面粗糙度的轮廓算术平均偏差进行有效性验证；检验集料表面粗糙度的区分性。
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