[发明专利]一种多约束信息的无透镜全息显微相位恢复方法及其装置有效
| 申请号： | 201810368146.X | 申请日： | 2018-04-23 |
| 公开（公告）号： | CN108508588B | 公开（公告）日： | 2019-11-15 |
| 发明（设计）人： | 曹汛;华夏;黄烨;杨程;闫锋 | 申请（专利权）人： | 南京大学 |
| 主分类号： | G02B21/36 | 分类号： | G02B21/36;G02B21/12 |
| 代理公司： | 32207 南京知识律师事务所 | 代理人： | 李媛媛<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
| 地址： | 210023江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种多约束信息的无透镜全息显微相位恢复方法及其装置。该方法包括如下步骤：S1：关闭光源，利用无透镜全息显微装置采集暗场图像；S2：打开光源，采集光源均匀照射下的明场图像；S3：在图像传感器上方放置样本，保证样本到图像传感器的距离远小于样本到光源的距离；打开光源，采集全息图像序列；S4：对需要计算的任意一张全息图像进行平场校正；S5：对平场校正后的图像进行自动对焦算法，求得样本在空间中的位置；S6：对自动对焦后的全息图像采用多约束信息的相位恢复算法，重建出样本的准确幅度和相位信息。本发明能不增加系统复杂度和采集图像的数量，从拍摄到的全息图像中恢复出准确的相位信息。 | ||
| 搜索关键词： | 光源 全息图像 样本 多约束 无透镜 全息 图像传感器 相位恢复 相位信息 自动对焦 采集 显微 校正 相位恢复算法 图像 暗场图像 采集图像 均匀照射 显微装置 增加系统 复杂度 明场 算法 拍摄 重建 恢复 保证 | ||
【主权项】：
1.一种多约束信息的无透镜全息显微相位恢复方法，其特征在于，包括如下步骤：/nS1：关闭光源，利用无透镜全息显微装置采集暗场图像；/nS2：打开光源，采集光源均匀照射下的明场图像；/nS3：在图像传感器上方放置样本，保证样本到图像传感器的距离远小于样本到光源的距离；打开光源，采集全息图像序列；/nS4：对需要计算的任意一张全息图像进行平场校正；/nS5：对平场校正后的图像进行自动对焦算法，求得样本在空间中的位置；/nS6：对自动对焦后的全息图像采用多约束信息的相位恢复算法，利用交替近端梯度的算法重建出样本的准确幅度和相位信息；所述多约束信息的相位恢复算法的目标函数如下所示：/n
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