[发明专利]一种可同时测量束流强度和发射度的装置及方法有效

专利信息
申请号: 201810680210.8 申请日: 2018-06-27
公开(公告)号: CN108873051B 公开(公告)日: 2019-12-06
发明(设计)人: 王忠明;王敏文;屈二渊;王迪;陈伟;邱孟通 申请(专利权)人: 西北核技术研究所
主分类号: G01T1/29 分类号: G01T1/29;G01T7/00
代理公司: 61211 西安智邦专利商标代理有限公司 代理人: 汪海艳<国际申请>=<国际公布>=<进入
地址: 710024 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明涉及一种可同时测量束流强度和发射度的装置及方法,装置主要包括:水平方向和垂直方向的位置采样缝板、水平方向和垂直方向的角度采样缝板以及一套真空系统。进行流强测量时,通过位置采样缝板处的法拉第筒、角度采样缝板及其后的法拉第筒接收到的电流之和得到入射粒子束的流强;测量束流发射度时,在电机驱动下实现对束流的位置采样和散角采样,通过测量两个缝板的位置及角度采样缝接收的电流信号来实现束流发射度的测量。本发明结构紧凑,操作简单,易于小型化,既能测量束流水平和垂直两个方向上的发射度,同时还可测量束流的流强,非常适合低能强流质子束的束流参数测量。
搜索关键词: 采样 束流 测量 缝板 发射度 束流发射度 法拉第筒 粒子束 参数测量 低能强流 电机驱动 电流信号 真空系统 可测量 质子束 入射 垂直
【主权项】:
1.一种可同时测量束流强度和发射度的装置,其特征在于:包括真空室(25)、X向采样单元和/或Y向采样单元;X向采样单元包括X向位置采样缝板(21)与X向角度采样缝板(22),Y向采样单元包括Y向位置采样缝板(23)与Y向角度采样缝板(24);/nX向采样单元和/或Y向采样单元位于真空室(25)内部;定义束流先经过的部分为前方,X向位置采样缝板(21)和/或Y向位置采样缝板(23)位于X向角度采样缝板(22)和/或Y向角度采样缝板(24)的前方;/nX向位置采样缝板(21)能够沿X向在真空室(25)内移动,Y向位置采样缝板(23)能够沿Y向在真空室(25)内移动;X向位置采样缝板(21)与Y向位置采样缝板(23)均包括沿束流方向依次设置的位置采样安装板(44)、第一二次电子抑制电极(41)及狭缝测束筒(42);位置采样安装板(44)、第一二次电子抑制电极(41)及狭缝测束筒(42)之间相互绝缘;位置采样安装板(44)上开设有采样口(46);狭缝测束筒(42)的开口端朝向位置采样安装板(44),狭缝测束筒(42)上设有第一信号引出电极(45);狭缝测束筒(42)底部设有第一狭缝(47);束流通过采样口(46)进入狭缝测束筒(42),一部分被狭缝测束筒(42)拦截,另一部分穿过狭缝测束筒(42)的第一狭缝(47);/nX向角度采样缝板(22)能够沿X向在真空室内移动,Y向角度采样缝板(24)能够沿Y向在真空室内移动;X向角度采样缝板(22)与Y向角度采样缝板(24)均包括沿束流方向依次设置的角度采样缝板(51)、角度采样安装板(56)及法拉第筒;角度采样缝板(51)固定于角度采样安装板(56)上,角度采样缝板(51)上装有第二信号引出电极(57),角度采样缝板(51)上开设有第二狭缝(59);角度采样安装板(56)上开设有与角度采样缝板(51)上的第二狭缝(59)相通的狭缝;法拉第筒的开口端朝向角度采样安装板(56)并固定在角度采样安装板(56)上;法拉第筒包括第二二次电子抑制电极(52)、测束筒(53)及屏蔽筒(54),第二二次电子抑制电极(52)与测束筒(53)位于屏蔽筒(54)内;角度采样安装板(56)、第二二次电子抑制电极(52)及测束筒(53)之间相互绝缘;测束筒上设有第三信号引出电极(58);/n从狭缝测束筒(42)第一狭缝(47)穿过的束流一部分被角度采样缝板(51)接收,另一部分穿过角度采样缝板(51)上开设的第二狭缝(59)进入测束筒(53)。/n
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