[发明专利]一种基于FPGA的通用闪存测试系统在审
| 申请号： | 201811512286.6 | 申请日： | 2018-12-11 |
| 公开（公告）号： | CN109411007A | 公开（公告）日： | 2019-03-01 |
| 发明（设计）人： | 唐文天;裴敬;邓标华;孟杨;魏海波 | 申请（专利权）人： | 武汉精鸿电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/26 | 分类号： | G11C29/26;G11C29/56 |
| 代理公司： | 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224 | 代理人： | 李佑宏 |
| 地址： | 430070 湖北省武汉市洪*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于FPGA的通用闪存测试系统，包括UFS主控器、UniPro和M‑PHY，其特征在于，所述UFS主控器、UniPro和M‑PHY顺次相连接，共同形成一个通用闪存测试单元并安装在FPGA核心板上，每个M‑PHY与一个待测通用闪存对应连接；所述通用闪存测试单元在FPGA的驱动下，对相应的待测通用闪存进行测试。本发明技术方案针对目前的通用闪存(UFS)测试设备少、方法因循守旧、测试效率低的情况，通过FPGA对多个通用闪存测试单元进行管理，可以同时对多个待测通用闪存(DUT)进行测试，无须针对DUT另行封装通用闪存测试单元芯片进行测试。 | ||
| 搜索关键词： | 通用闪存 测试单元 测试系统 主控器 测试 测试设备 测试效率 封装 芯片 驱动 管理 | ||
【主权项】：
1.一种基于FPGA的通用闪存测试系统，包括UFS主控器、UniPro、M‑PHY和FPGA，其特征在于，所述UFS主控器、UniPro和M‑PHY顺次相连接，共同形成一个通用闪存测试单元并设置在FPGA中，所述M‑PHY与待测通用闪存对应连接；所述FPGA对通用闪存测试单元进行逻辑编程，进而驱动UFS主控器对相应的待测通用闪存进行性能测试。
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