[发明专利]一种用于校正气测录井影响因素的综合录井曲线处理方法有效
申请号: | 201811514825.X | 申请日: | 2018-12-12 |
公开(公告)号: | CN109653739B | 公开(公告)日: | 2022-07-15 |
发明(设计)人: | 沈文建;毛敏;徐凤阳;吴昊晟;倪朋勃 | 申请(专利权)人: | 中法渤海地质服务有限公司 |
主分类号: | G06F30/20 | 分类号: | G06F30/20;G16C20/30;G06Q50/02;E21B49/00;E21B47/00;G06F111/06;G06F113/08 |
代理公司: | 北京远大卓悦知识产权代理有限公司 11369 | 代理人: | 姜美洋 |
地址: | 300452 *** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本发明公开了一种用于校正气测录井影响因素的综合录井曲线处理方法,包括:步骤一、采集所述录井信息,确定所述录井信息中待处理范围区间;步骤二、对所述待处理范围区间的曲线段进行背景值校正处理得到优化后的背景值线;步骤三、对所述曲线段所对应的全烃含气量进行校正处理得到优化后的录井曲线;以及对所述待处理范围区间的曲线段中的异常峰进行优化处理,得到优化后的录井曲线。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 校正 气测录井 影响 因素 综合 曲线 处理 方法 | ||
【主权项】:
1.一种用于校正气测录井影响因素的综合录井曲线处理方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤一、采集所述录井信息,确定所述录井信息中待处理范围区间;步骤二、对所述待处理范围区间的曲线段进行背景值校正处理得到优化后的背景值线;步骤三、对所述曲线段所对应的全烃含气量进行校正处理得到优化后的录井曲线;以及对所述待处理范围区间的曲线段中的异常峰进行优化处理,得到优化后的录井曲线。
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