[发明专利]X射线产生装置和X射线分析装置有效
申请号: | 201910150250.6 | 申请日: | 2019-02-28 |
公开(公告)号: | CN110223797B | 公开(公告)日: | 2023-10-24 |
发明(设计)人: | 表和彦;刑部刚;小泽哲也;姜立才;鲍里斯·韦尔曼 | 申请(专利权)人: | 株式会社理学 |
主分类号: | G21K1/00 | 分类号: | G21K1/00;G21K1/06;G01N23/00 |
代理公司: | 北京瑞盟知识产权代理有限公司 11300 | 代理人: | 刘昕;孟祥海 |
地址: | 日本国东京都昭*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供一种X射线产生装置和X射线分析装置,其能够利用简单的结构来实现电子束尺寸小的聚焦X射线电子束。X射线产生装置具备:线状X射线源;多层膜镜;以及并排反射镜,其以2片凹面镜共用接合线的方式彼此接合,所述X射线产生装置的特征在于,多层膜镜的反射面的截面具有抛物线形状,并且该抛物线形状的焦点位于线状X射线源,并排反射镜的2片凹面镜的反射面的截面各自具有抛物线形状,并且该抛物线形状的焦点分别位于多层膜镜的相反侧,在俯视观察下,所述并排反射镜的接合线的延长线贯穿多层膜镜以及线状X射线源。 | ||
搜索关键词: | 射线 产生 装置 分析 | ||
【主权项】:
1.一种X射线产生装置,具备:线状X射线源;多层膜镜;以及并排反射镜,其以2片凹面镜共用接合线的方式彼此接合,所述X射线产生装置的特征在于,所述多层膜镜的反射面的截面具有抛物线形状,并且该抛物线形状的焦点位于所述线状X射线源,所述并排反射镜的2片凹面镜的反射面的截面各自具有抛物线形状,并且该抛物线形状的焦点分别位于所述多层膜镜的相反侧。
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