[发明专利]一种金属构件表面涂层缺陷的X射线无损检测装置及方法在审
| 申请号： | 201910390994.5 | 申请日： | 2019-05-10 |
| 公开（公告）号： | CN110057850A | 公开（公告）日： | 2019-07-26 |
| 发明（设计）人： | 张津;连勇;徐伟生;焦进超;杨振波 | 申请（专利权）人： | 北京科技大学 |
| 主分类号： | G01N23/2055 | 分类号： | G01N23/2055 |
| 代理公司： | 北京市广友专利事务所有限责任公司 11237 | 代理人： | 张仲波 |
| 地址： | 100083*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种金属构件表面涂层缺陷的X射线无损检测装置及方法，属于涂层缺陷无损检测技术领域。该装置包括主机、支架和控制显示部分，主机通过支架固定，控制显示部分控制主机运行和支架移动，并对探测信号进行显示。使用时，首先针对涂层基底材料的种类进行衍射晶面计算，然后调整主机，对待测部位通过红外激光定位，利用嵌入式软件，获取衍射图，根据衍射图的颜色或衍射信号强弱，对比标准无缺陷涂层样件的衍射图，根据德拜环形状或衍射强弱信息，判定涂层缺陷的贯穿与否或涂层的均匀性。本发明可检测涂层的缺陷，如磕碰划伤、气泡、疏松、腐蚀等。本发明结构简单,方便携带，操作简便,检测时间短，探测器与工件非接触，不损伤破坏涂层。 | ||
| 搜索关键词： | 涂层缺陷 衍射图 主机 金属构件表面 控制显示 衍射 无损检测技术 嵌入式软件 对比标准 红外激光 基底材料 控制主机 强弱信息 探测信号 衍射信号 支架固定 支架移动 非接触 环形状 均匀性 可检测 磕碰 探测器 划伤 晶面 样件 支架 疏松 判定 损伤 强弱 腐蚀 携带 贯穿 检测 | ||
【主权项】：
1.一种金属构件表面涂层缺陷的X射线无损检测装置，其特征在于：包括主机、支架(6)和控制显示器(7)，主机包括X射线管(1)、激光定位器、准直管(2)、X射线探测器(3)、信号放大器(4)和弧形导轨(5)；主机安装在支架(6)上，X射线管(1)和X射线探测器(3)依据X射线衍射原理满足布拉格条件布置，激光定位器用于确定测试点位置，准直管(2)连接X射线管(1)，用于限制光束大小，X射线探测器(3)用于收集衍射信号，弧形导轨(5)连接在支架(6)上，X射线管(1)、X射线探测器(3)和信号放大器(4)连接在弧形导轨(5)上，控制显示器(7)连接信号放大器(4)。
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