[发明专利]一种射频识别芯片的测试方法在审
| 申请号： | 201910422251.1 | 申请日： | 2019-05-21 |
| 公开（公告）号： | CN110086551A | 公开（公告）日： | 2019-08-02 |
| 发明（设计）人： | 张建伟;左卫松 | 申请（专利权）人： | 上海明矽微电子有限公司;张建伟 |
| 主分类号： | H04B17/20 | 分类号： | H04B17/20;H04B17/00;H04B17/15;H04B17/29;G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 201203 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种射频识别芯片的自动测试方法。该方法包括，通过ATE测试机发出数字信号来模拟射频电路发出的载波信号，该数字信号通过针卡与晶圆上的芯片引脚直接连接，信号进入芯片后经过射频解调电路进行解调，再通过数字电路进行命令解码和存储器的数据读写和加解密等操作。数字电路处理好以后，会通过芯片内的调制模块，把数字信号通过协议规定的调制方式调制到特定的载波频率上，最后将调制好的模拟信号送到芯片的两个射频引脚上。本发明在功能测试时无需外接专门的射频信号测试仪器仪表，更是无需使用专门射频测试模块，大大的降低了对ATE测试机配置的要求，同时解决了多路同测时的串扰问题，真正的实现了低成本和高效率测试。 | ||
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【主权项】：
1.一种射频识别芯片的自动测试方法，其特征在于：在不需要专用射频测试模块的情况下，通过ATE测试机实现多路同时测试，提高测试效率，缩短测试时间，减少测试成本。
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- 李荣明 - 南京纳特通信电子有限公司
- 2017-05-07 - 2017-12-12 - H04B17/20
- 本实用新型提供了一种多载波互调测试系统，包括3db电桥合路模块、腔体合路器合路模块、四频载波模块、B1互调模块、B2互调模块、控制模块以及上位机，其中，3db电桥合路模块、腔体合路器合路模块及四频载波模块分别与B1互调模块或B2互调模块搭建成多载波互调测试平台，以测试3‑15阶反射及传输互调产物，控制模块用于控制射频开关的切换，上位机通过控制所述控制模块进行反射/传输的测试模式的切换，本实用新型能实现发射通带2160MHz‑2210MHz频段内，互调接收通带在1810MHz‑2110MHz频段内的3至15阶互调测试,待测件端口最大功率200W，可满足不同输入功率条件下的PIM特性研究。
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