[发明专利]中子化学战剂无损检测系统在审
申请号: | 201910458373.6 | 申请日: | 2019-05-29 |
公开(公告)号: | CN110161062A | 公开(公告)日: | 2019-08-23 |
发明(设计)人: | 杨振敏 | 申请(专利权)人: | 杨振敏 |
主分类号: | G01N23/05 | 分类号: | G01N23/05 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 035503 山西省忻*** | 国省代码: | 山西;14 |
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摘要: | 本发明提出了一种中子化学战剂无损检测系统,包括氘离子发射装置、氘靶,靶室、被测样品放置区、γ射线探测器,氘靶设置在靶室内,氘离子发射装置设置在靶室外侧朝向氘靶并能朝向氘靶发射氘离子,氘靶被氘离子照射会发射中子束,被测样品放置区设置在中子束的出射方向上,γ射线探测器设置在被测样品放置区周围用于探测被中子束照射的样品发出的γ射线。 | ||
搜索关键词: | 氘离子 被测样品 放置区 中子束 发射装置 无损检测系统 射线探测器 化学战剂 靶室 照射 发射 出射 射线 探测 室内 | ||
【主权项】:
1.一种中子化学战剂无损检测系统,其特征在于:包括氘离子发射装置、氘靶,靶室、被测样品放置区、γ射线探测器,氘靶设置在靶室内,氘离子发射装置设置在靶室外侧朝向氘靶并能朝向氘靶发射氘离子,氘靶被氘离子照射会发射中子束,被测样品放置区设置在中子束的出射方向上,γ射线探测器设置在被测样品放置区周围用于探测被中子束照射的样品发出的γ射线。
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