[发明专利]一种欠采样光栅扫描原子力显微镜高速成像的方法及系统在审

专利信息
申请号: 201910765767.6 申请日: 2019-08-19
公开(公告)号: CN110456104A 公开(公告)日: 2019-11-15
发明(设计)人: 韩国强;牛弋翔;吕路遥;许海山;邹宇 申请(专利权)人: 福州大学
主分类号: G01Q60/24 分类号: G01Q60/24
代理公司: 35100 福州元创专利商标代理有限公司 代理人: 钱莉;蔡学俊<国际申请>=<国际公布>=
地址: 350108福建省福州*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明涉及一种欠采样光栅扫描原子力显微镜高速成像的方法及系统,首先设计欠采样的光栅扫描模式,并以此生成欠采样光栅扫描图案;然后根据生成的欠采样光栅扫描图案来构造相应的测量矩阵;最后根据测量矩阵以及压缩感知理论重构原子力显微镜图像。本发明能够提高原子力显微镜成像的速度。
搜索关键词: 欠采样 光栅扫描图案 原子力显微镜 矩阵 测量 原子力显微镜图像 光栅扫描模式 压缩感知理论 高速成像 光栅扫描 重构 成像
【主权项】:
1.一种欠采样光栅扫描原子力显微镜高速成像的方法,其特征在于,包括以下步骤:/n设计欠采样的光栅扫描模式,并以此生成欠采样光栅扫描图案;/n根据生成的欠采样光栅扫描图案来构造相应的测量矩阵;/n根据测量矩阵以及压缩感知理论重构原子力显微镜图像。/n
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