[发明专利]三维曲面瑕疵检测系统校正治具及使用其的校正方法在审
| 申请号： | 201910802460.9 | 申请日： | 2019-08-28 |
| 公开（公告）号： | CN112444524A | 公开（公告）日： | 2021-03-05 |
| 发明（设计）人： | 陈宗圣;魏源锺;许智钦 | 申请（专利权）人： | 智泰科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/93 | 分类号： | G01N21/93 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 任岩 |
| 地址： | 中国台湾新北*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种三维曲面瑕疵检测系统校正治具，其至少包括：一框体，其至少一外侧表面上具有多个棋盘格。此外，本发明亦揭示一种使用三维曲面瑕疵检测系统校正治具的校正方法。 | ||
| 搜索关键词： | 三维 曲面 瑕疵 检测 系统 校正 使用 方法 | ||
【主权项】：
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- 一种基于数字显微镜的测试系统的参数标定方法-201410704308.4
- 赵盾 - 赵盾
- 2014-11-29 - 2015-03-11 - G01N21/93
- 目前基于数字显微镜的摄像头模组表面缺陷的测试系统中，有如下主要参数需要标定1，显微镜放大倍数；2，显微镜物距；3，光照系统的光照强度。业内尚无公开的知识来标定基于数字显微镜的摄像头模组表面缺陷的测试系统用到的上述参数。本发明提供了一种方法，其特征在于：用一张带刻度的模板来标定放大倍数，用自动对焦算法来取得特定放大倍数下的显微镜高度，用被测摄像头模组芯片传感器表面的光照强度来标定当前光照系统的亮度。
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