[实用新型]低压降二极管P-N结结构有效

专利信息
申请号: 201920323841.4 申请日: 2019-03-13
公开(公告)号: CN209389040U 公开(公告)日: 2019-09-13
发明(设计)人: 王成森;潘建英;欧阳潇 申请(专利权)人: 捷捷半导体有限公司
主分类号: H01L29/861 分类号: H01L29/861;H01L29/06
代理公司: 石家庄轻拓知识产权代理事务所(普通合伙) 13128 代理人: 王占华
地址: 226000 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型公开了一种低压降二极管P‑N结结构,涉及二极管技术领域。所述P‑N结结构包括N‑原始单晶层,所述N‑原始单晶层的下表面形成有N+衬底层,所述N+衬底层与N‑原始单晶层形成二极管阴极层,所述N‑原始单晶层的上表面形成有P型阳极层,其中所述P型阳极层的下表面设置有向所述N‑原始单晶层内部延伸的凸起,所述凸起与其上侧部分的P型阳极层形成深P阱阳极区,所述深P阱阳极区的两侧为P型浅结阳极区。所述P‑N结结构中P型阳极区内设置有局部内凹结构,在同等芯片面积的情况下P‑N结结面积增加了30%以上,大幅降低了二极管的压降值。
搜索关键词: 原始单晶 阳极层 阳极区 低压降二极管 衬底层 下表面 深P阱 凸起 本实用新型 二极管技术 二极管阴极 二极管 阳极 面积增加 内凹结构 内部延伸 上表面 浅结 压降 有向 芯片
【主权项】:
1.一种低压降二极管P‑N结结构,其特征在于:包括N‑原始单晶层(1),所述N‑原始单晶层(1)的下表面形成有N+衬底层(2),所述N+衬底层(2)与N‑原始单晶层(1)形成二极管阴极层,所述N‑原始单晶层(1)的上表面形成有P型阳极层(3),其中所述P型阳极层的下表面设置有向所述N‑原始单晶层内部延伸的凸起(4),所述凸起与其上侧部分的P型阳极层形成深P阱阳极区,所述深P阱阳极区的两侧为P型浅结阳极区。
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