[发明专利]使用霍尔元件或霍尔IC的磁场检测装置及使用磁场检测装置的接近传感器在审
| 申请号： | 201980000364.0 | 申请日： | 2019-01-23 |
| 公开（公告）号： | CN111712717A | 公开（公告）日： | 2020-09-25 |
| 发明（设计）人： | 萩山昌哉;小菅荣一;矢岛弘一 | 申请（专利权）人： | 艾礼富电子（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G01R33/07 | 分类号： | G01R33/07;G01R33/02 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人： | 金英花 |
| 地址： | 518126 广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 提供磁场检测装置以及使用了磁场检测装置的接近传感器，磁敏方向为水平方向，动作幅度宽，容易进行位置调整，并且灵敏度不易因冲击而变化，且寿命长，磁场检测装置(1)包括：霍尔元件(3)；以及磁性体(4)，接近霍尔元件(3)配置，用于检测相对于霍尔元件(3)的磁敏面的水平方向的磁场。可以将磁性体(4)配置在霍尔元件(3)的磁敏面的上部侧和/或下部侧。可以将霍尔元件(3)置换为霍尔IC(13)，作为磁场检测装置。使用了霍尔元件(3)和霍尔IC(13)的磁场检测装置还可具备覆盖磁场检测装置的壳体，作为接近传感器。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 霍尔 元件 ic 磁场 检测 装置 接近 传感器 | ||
【主权项】：
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