[发明专利]检测金属离子的荧光纳米探针及其制备方法与应用有效

专利信息
申请号: 202010051851.4 申请日: 2020-01-17
公开(公告)号: CN113136201B 公开(公告)日: 2022-12-27
发明(设计)人: 苏海佳;赵怡琳;王耀强;王子帅;靳宇 申请(专利权)人: 北京化工大学
主分类号: C09K11/06 分类号: C09K11/06;C09K11/02;G01N21/64
代理公司: 北京睿邦知识产权代理事务所(普通合伙) 11481 代理人: 方莉
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及检测金属离子的荧光纳米探针及其制备方法与应用。所述检测金属离子的荧光纳米探针为掺杂染料的磁性纳米复合物,其包括具有介孔结构的磁性纳米复合物、装填于磁性纳米复合物的孔隙内的第I荧光染料(参比荧光染料)、包覆装填有第I荧光染料的磁性纳米复合物表面的包封层、结合于包封层外表面的功能基团,以及通过功能基团偶联于包封层外表面的第II荧光染料(响应荧光染料)。所述磁性纳米复合物具有极大的比表面积,避免染料分子在掺杂过程中的聚集、较少自猝灭,提高染料的发光效率;修饰在包封层内部的染料不易泄漏,提高双发射探针的检测稳定性;纳米复合物表面易于功能化,适用于生物检测、标记和免疫检测等生物领域的应用。
搜索关键词: 检测 金属 离子 荧光 纳米 探针 及其 制备 方法 应用
【主权项】:
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