[发明专利]抽样式裂变电离室及基于其测定裂变总数的方法在审

专利信息
申请号: 202010279017.0 申请日: 2020-04-10
公开(公告)号: CN111370290A 公开(公告)日: 2020-07-03
发明(设计)人: 余功硕;李雪松;师全林;王玉凤;凡金龙;张强;张小林;姜文刚 申请(专利权)人: 西北核技术研究院
主分类号: H01J49/14 分类号: H01J49/14;G01T1/185
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 李雪亚
地址: 710024 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明涉及一种裂变电离室,特别涉及一种抽样式裂变电离室及基于其测定裂变总数的方法,解决了用现有电离室测量裂变产额时,由于电离室存在自屏蔽、中子能谱一致性差、导致引入了较大的测量不确定度,及无法对气体裂变产物和短寿命裂变产物测量和对测量人员健康影响较大的问题。该电离室的特殊在于:包括由下至上依次同轴设置阴极托和阴极,设在阴极内腔中且与阴极同轴的阳极托;阳极托下底面设有环形密封凸台和隔离凸台,密封凸台位于隔离凸台外侧;密封凸台下端面与阴极底部内表面密封固连;隔离凸台最下端与阴极底部内表面间有间隙;抽样阳极和环形阳极附着在阳极托下底面,抽样阳极位于隔离凸台内部;环形阳极位于隔离凸台和密封凸台之间。
搜索关键词: 抽样 裂变 电离室 基于 测定 总数 方法
【主权项】:
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