[发明专利]抽样式裂变电离室及基于其测定裂变总数的方法在审
申请号: | 202010279017.0 | 申请日: | 2020-04-10 |
公开(公告)号: | CN111370290A | 公开(公告)日: | 2020-07-03 |
发明(设计)人: | 余功硕;李雪松;师全林;王玉凤;凡金龙;张强;张小林;姜文刚 | 申请(专利权)人: | 西北核技术研究院 |
主分类号: | H01J49/14 | 分类号: | H01J49/14;G01T1/185 |
代理公司: | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人: | 李雪亚 |
地址: | 710024 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及一种裂变电离室,特别涉及一种抽样式裂变电离室及基于其测定裂变总数的方法,解决了用现有电离室测量裂变产额时,由于电离室存在自屏蔽、中子能谱一致性差、导致引入了较大的测量不确定度,及无法对气体裂变产物和短寿命裂变产物测量和对测量人员健康影响较大的问题。该电离室的特殊在于:包括由下至上依次同轴设置阴极托和阴极,设在阴极内腔中且与阴极同轴的阳极托;阳极托下底面设有环形密封凸台和隔离凸台,密封凸台位于隔离凸台外侧;密封凸台下端面与阴极底部内表面密封固连;隔离凸台最下端与阴极底部内表面间有间隙;抽样阳极和环形阳极附着在阳极托下底面,抽样阳极位于隔离凸台内部;环形阳极位于隔离凸台和密封凸台之间。 | ||
搜索关键词: | 抽样 裂变 电离室 基于 测定 总数 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西北核技术研究院,未经西北核技术研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202010279017.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种新型结构的导光板
- 下一篇:一种利用数码相机观测的分光计及其调节方法