[实用新型]波长调谐相移干涉测试装置有效

专利信息
申请号: 202020104005.X 申请日: 2020-01-17
公开(公告)号: CN211373498U 公开(公告)日: 2020-08-28
发明(设计)人: 赵智亮;陈立华;刘敏;张志华;龚小康 申请(专利权)人: 成都太科光电技术有限责任公司;赵智亮
主分类号: G01B9/02 分类号: G01B9/02;G01B11/24
代理公司: 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 代理人: 张宁展
地址: 610041*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 实用新型公开了一种波长调谐相移干涉测试装置及测试方法,包括波长调谐激光器、干涉测试系统、干涉图样采集系统三部分。本实用新型克服了常规干涉仪机械相移器安装繁琐、结构复杂等问题,通过采用自修正相位测试原理,可计算得到干涉腔腔长值,并修正相移误差,从而实现整体干涉仪系统的高精度、高效率检测。实验表明,本实用新型系统装置相位修正误差值为±π/50,系统重复性精度为λ/1000~λ/2000。
搜索关键词: 波长 调谐 相移 干涉 测试 装置
【主权项】:
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