[发明专利]对分段γ扫描测量系统的透射源属性特征的表征方法有效
| 申请号： | 202080024726.2 | 申请日： | 2020-04-21 |
| 公开（公告）号： | CN113853536B | 公开（公告）日： | 2023-05-23 |
| 发明（设计）人： | 王仲奇;柏磊;邵婕文;苗强 | 申请（专利权）人： | 中国原子能科学研究院 |
| 主分类号： | G01T1/167 | 分类号： | G01T1/167 |
| 代理公司： | 北京市创世宏景专利商标代理有限责任公司 11493 | 代理人： | 王鹏鑫 |
| 地址： | 102413 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种对分段γ扫描测量系统的透射源属性特征的表征方法，包括以下步骤：制作对γ射线等效水密度已知的标准透射对象；利用模拟计算方法模拟透射测量过程，建立关于标准透射对象的透射厚度、等效水密度、原始重建密度、透射源空间夹角余弦以及γ射线能量的数据库，基于数据库拟合透射源空间夹角余弦关于标准透射对象的参数和γ射线能量的对应关系；对待表征的透射源，选择对应的标准透射对象进行透射测量，获取标准透射对象的原始重建密度；根据标准透射对象的已知参数和γ射线能量通过拟合的对应关系，从数据库读取待表征透射源的透射源空间夹角余弦。 | ||
| 搜索关键词： | 分段 扫描 测量 系统 透射 属性 特征 表征 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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