[发明专利]用于评估患者相对于自动暴露控制腔室的位置的方法在审
申请号: | 202080074231.0 | 申请日: | 2020-10-16 |
公开(公告)号: | CN114599290A | 公开(公告)日: | 2022-06-07 |
发明(设计)人: | T·P·哈德;T·比洛;S·扬;J·冯贝格;S·克伦克;D·贝斯特罗夫;A·戈森 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦有限公司 |
主分类号: | A61B6/00 | 分类号: | A61B6/00 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 孟杰雄 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 一种用于评估患者相对于用于医学检查的自动暴露控制腔室,即,AEC腔室(11、12)的位置的方法,其中,患者被定位于X射线源与所述AEC腔室(11、12)之间;所述方法包括以下步骤:‑采集(S10)所述患者的至少部分的X射线图像(32),其中,所述AEC腔室被配置用于探测所述X射线源的辐射剂量;‑由控制单元根据所采集的X射线图像(32)来确定(S20)所述AEC腔室(11、12)相对于所述患者的位置;‑由所述控制单元根据要对所述患者执行的所述医学检查来确定(S30)对所述患者执行的检查协议,并且由所述控制单元根据所述检查协议来确定所述AEC腔室(11、12)相对于所述患者的理想位置,其中,所述理想位置涉及所述患者相对于所述AEC腔室(11、12)的位置,在所述位置中,探测到的辐射剂量对于所述医学检查是可靠的;并且‑由所述控制单元确定(S40)所述AEC腔室的所述位置与所述AEC腔室的所述理想位置的位置偏差;其特征在于,由所述控制单元确定所述位置偏差包括以下步骤:‑在所述X射线图像(32)中分割所述患者的至少一个解剖结构(21、22),从而确定至少一个分割的解剖结构(21、22);并且‑根据所述至少一个分割的解剖结构(21、22)来确定所述位置偏差;‑确定所述至少一个分割的解剖结构(21、22)与所述AEC腔室(11、12)的交叠;并且‑根据所确定的交叠来确定所述位置偏差。 | ||
搜索关键词: | 用于 评估 患者 相对于 自动 暴露 控制 位置 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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