[发明专利]一种基于LTE的上行路径损耗测试方法有效
| 申请号： | 202110662739.9 | 申请日： | 2021-06-15 |
| 公开（公告）号： | CN113556193B | 公开（公告）日： | 2023-10-24 |
| 发明（设计）人： | 龚园园 | 申请（专利权）人： | 北京长焜科技有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/309 | 分类号： | H04B17/309;H04B17/318;H04W24/08;H04W52/14;H04W52/24;H04W52/36 |
| 代理公司： | 北京中海智圣知识产权代理有限公司 11282 | 代理人： | 曾京京 |
| 地址： | 100176 北京市大兴区经济技*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： |
本发明涉及一种基于LTE的上行路径损耗测试方法，所述损耗测试方法包括以下步骤：步骤1、UE上行共享信道(Physical uplink shared channel，PUSCH)的功率控制；步骤2、UE上报功率剩余PH；步骤3、UE根据配置的PH上报周期进行周期上报PH；步骤4、eNB测量UE发送的上行共享信道信号的强度，基站测量PUSCH平均一个RB的接收信号强度RSSI |
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| 搜索关键词： | 一种 基于 lte 上行 路径 损耗 测试 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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