[发明专利]一种DUV光刻用底部抗反射涂层及其制备方法和应用有效

专利信息
申请号: 202111146214.6 申请日: 2021-09-28
公开(公告)号: CN115873176B 公开(公告)日: 2023-09-26
发明(设计)人: 方书农;王溯;耿志月;崔中越 申请(专利权)人: 上海新阳半导体材料股份有限公司;上海芯刻微材料技术有限责任公司
主分类号: C08F234/02 分类号: C08F234/02;C08F232/08;C08F222/40;C08F212/32;G03F7/16;G03F7/20;G03F7/32;G03F7/004
代理公司: 上海弼兴律师事务所 31283 代理人: 王卫彬;陈卓
地址: 201616 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种DUV光刻用底部抗反射涂层及其制备方法和应用。本发明公开的底部抗反射涂层由下述组合物制得,所述的组合物包括聚合物、溶剂和光酸产生剂;其中,所述聚合物由下述方法制得,其包括下列步骤:(1)将溶剂I预热;(2)将如式(A)所示的单体、如式(B)所示的单体、如式(C)所示的单体、如式(L)所示的交联剂、引发剂和溶剂II混合,得一混合液;(3)将混合液加入到预热的溶剂中进行聚合反应;其中,步骤(1)和步骤(2)不分先后。本发明制备方法制备得到的底部抗反射涂层能够降低反射率,在底部抗反射涂层旋涂光致抗蚀剂后,未观察到由底部抗反射涂层形成的浮渣。#imgabs0#
搜索关键词: 一种 duv 光刻 底部 反射 涂层 及其 制备 方法 应用
【主权项】:
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