[发明专利]通道间匹配性测试电路在审
| 申请号： | 202210039254.9 | 申请日： | 2022-01-13 |
| 公开（公告）号： | CN114325348A | 公开（公告）日： | 2022-04-12 |
| 发明（设计）人： | 管佳伟;史文婷;李海松;易扬波 | 申请（专利权）人： | 苏州博创集成电路设计有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 骆苏华 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州市中国（江苏）自由贸易实验区*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种通道间匹配性测试电路，该通道间匹配性测试电路包括测试模式电路、以及与测试模式电路信号连接的传输延时差处理电路；测试模式电路用于产生并输出测试模式使能信号，以开启传输延时差处理电路；传输延时差处理电路用于根据第一输出信号和第二输出信号生成二进制数，并输出所述二进制数。本发明还公开了一种多通道模组、合封芯片、测试系统。利用本发明方案，可以提高通道间匹配性测试精度。 | ||
| 搜索关键词： | 通道 匹配 测试 电路 | ||
【主权项】：
暂无信息
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