[发明专利]半导体装置在审

专利信息
申请号: 202211062889.7 申请日: 2022-09-01
公开(公告)号: CN115910970A 公开(公告)日: 2023-04-04
发明(设计)人: 山口翔;山本哲也 申请(专利权)人: 株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社
主分类号: H01L23/495 分类号: H01L23/495
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 徐殿军
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 提供一种半导体装置。在对半导体芯片接合大面积的铜连接器时,即使在不能充分确保与接合面的间隙的情况下,也抑制连接(接合)不良、焊料焊脚形成不良,实现钎焊连接部的可靠性的提高。实施方式的半导体装置具备:引线框;半导体芯片,其搭载于引线框;以及条带部件,其经由导电性粘接剂而与半导体芯片的电极连接;条带部件的连接面的外周缘的至少一部分在俯视的情况下与条带部件的最外周缘相比位于内侧。
搜索关键词: 半导体 装置
【主权项】:
暂无信息
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