[发明专利]一种高陡度或深凹复杂曲面的坐标测量系统与方法在审

专利信息
申请号: 202211235438.9 申请日: 2022-10-10
公开(公告)号: CN115540730A 公开(公告)日: 2022-12-30
发明(设计)人: 关朝亮;王瑜;戴一帆;陈善勇 申请(专利权)人: 中国人民解放军国防科技大学
主分类号: G01B7/012 分类号: G01B7/012;G01B7/28
代理公司: 湖南兆弘专利事务所(普通合伙) 43008 代理人: 刘畅舟
地址: 410073 湖南*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明公开了一种高陡度或深凹复杂曲面的坐标测量系统及方法,系统在机床的B轴上设有电感式测头,电感式测头通过信号放大单元连接数据采集单元,数据采集单元还连接机床和控制单元,可以对机床的X轴及Z轴的位移信号与电感式测头示数信号进行同步,控制单元在电感式测头示数为零时采集对应的X轴及Z轴的位移信号。方法包括:将电感式测头与第一主轴的C轴旋转中心线对准;从当前采样点开始以第一速度沿Z轴方向移动电感式测头至下一采样点附近,然后以第二速度沿X轴方向移动电感式测头靠近下一采样点直到电感式测头示数为零,采集此时X轴及Z轴的位移信号。本发明将电感式测头与超精密机床组合,有效提升了复杂曲面坐标测量准确性。
搜索关键词: 一种 陡度 复杂 曲面 坐标 测量 系统 方法
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