[实用新型]一种气体同位素质谱计前置进样结构有效

专利信息
申请号: 202221746832.4 申请日: 2022-07-06
公开(公告)号: CN217820165U 公开(公告)日: 2022-11-15
发明(设计)人: 侯超;杨凤诚;曹金浩;徐作文;窦鑫;刘佳龙 申请(专利权)人: 核工业理化工程研究院
主分类号: G01N27/62 分类号: G01N27/62
代理公司: 天津市宗欣专利商标代理有限公司 12103 代理人: 赵岷
地址: 300180 *** 国省代码: 天津;12
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摘要: 实用新型属于质谱计技术领域,具体涉及一种气体同位素质谱计前置进样结构,包括多路进样结构,所述多路进样结构的数量与质谱计的进样端口的数量相同,并一一对应连接,所述多路进样结构包括主路管线和自主路管线向下逐级分叉形成的多级分路结构,所述多级分路结构是由若干个分路结构和若干个支路管线形成的逐级分叉式结构。本实用新型前置进样结构形成多路进样,在样品更换工作中避免频繁操作,能够减少工作量,提高工作效率。同时避免样品间的沾污,避免同一路线频繁进不同样品带来更多的记忆因子,减少记忆效应,保证了测量数据的准确可靠性。
搜索关键词: 一种 气体 同位 素质 前置 结构
【主权项】:
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