[发明专利]一种多探头平面近场测量方法、系统、设备及介质在审

专利信息
申请号: 202310918512.5 申请日: 2023-07-25
公开(公告)号: CN116930627A 公开(公告)日: 2023-10-24
发明(设计)人: 袁浩波;李玉洁;杨普;王楠楠 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: G01R29/10 分类号: G01R29/10;G01R35/00
代理公司: 西安智大知识产权代理事务所 61215 代理人: 杨晔
地址: 710071 陕*** 国省代码: 陕西;61
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 一种多探头平面近场测量方法、系统、设备及介质,方法包括:将待测天线AUT与探头分别进行摆放,使探头的中心处于待测天线AUT扫描面的中心;使用探头对待测天线AUT进行扫描得到实测数据,对实测数据进行校准,得到平面近场数据;将平面近场数据通过平面多探头补偿算法,得到待测天线AUT的平面波谱,将待测天线AUT的平面波谱带入平面波谱与远场的关系式,得到待测天线AUT的远场数据;将待测天线AUT的远场数据在平面波谱与远场的关系式中的球坐标系下的坐标θ和#imgabs0#的均匀网格下进行输出,得到多探头平面近场测量结果;系统、设备及介质,用于实现多探头平面近场测量方法;本发明具有测量时间短、测量结果准确的特点。
搜索关键词: 一种 探头 平面 近场 测量方法 系统 设备 介质
【主权项】:
暂无信息
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