[发明专利]电容测量电路及测试机台在审

专利信息
申请号: 202310920740.6 申请日: 2023-07-24
公开(公告)号: CN116930621A 公开(公告)日: 2023-10-24
发明(设计)人: 杨杰 申请(专利权)人: 长鑫科技集团股份有限公司
主分类号: G01R27/26 分类号: G01R27/26;G01R1/30
代理公司: 北京名华博信知识产权代理有限公司 11453 代理人: 孙垚
地址: 230601 安徽省合肥市*** 国省代码: 安徽;34
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 本公开提供一种电容测量电路及测试机台。电容测量电路包括;第一测量电路,第一测量电路用于与待测部耦接,以对待测部进行充放电;第二测量电路,第二测量电路用于与参考部耦接,以对参考部进行充放电;其中,第二测量电路包括阻抗匹配电路,阻抗匹配电路用于与参考部耦接,用于调整第二测量电路的阻抗,以使待测部两端的电压与参考部两端的电压匹配。由于待测部两端的电压和参考部两端的电压匹配,消除了因端电压不匹配引起的电容测量误差,从而提高了电容测量的准确度。
搜索关键词: 电容 测量 电路 测试 机台
【主权项】:
暂无信息
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