[发明专利]一种光学晶体的检测系统在审
| 申请号： | 202311148108.0 | 申请日： | 2023-09-07 |
| 公开（公告）号： | CN116879240A | 公开（公告）日： | 2023-10-13 |
| 发明（设计）人： | 张兴文;李琳;周春风;叶鹏辉 | 申请（专利权）人： | 深圳市启扬光学科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/63 | 分类号： | G01N21/63;G01M11/02 |
| 代理公司： | 深圳汉林汇融知识产权代理事务所(普通合伙) 44850 | 代理人： | 刘临利 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安区*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明公开了属于光学技术领域，公开了一种光学晶体的检测系统，包括激光入射系统、置物检测平台、检测接收系统和控制系统；置物检测平台包括相机组件，置物架，以及用于调整置物架位置和角度的调整驱动组件；第一入射激光能够激发待测样品产生第一倍频光并反射第一倍频光；控制系统根据相机组件对标示激光照射待测样品的成像情况，以控制调整驱动组件来调整置物架的位置和角度，使得第一倍频光的照射路径沿着预设理想路径照射至检测接收系统，从而提高对于倍频检测的准确性；通过对于检测光路的可视化和可控化管理设计，实现对于不同的待测样品的倍频性能检测的调节，扩大系统的适用范围和兼容性，同时有利于提高检测的准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光学 晶体 检测 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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