[实用新型]测试板

说明书

技术领域

本实用新型实施例涉及测试技术，特别涉及一种测试板。

背景技术

为适应通信网络对传输带宽的要求，可以采用多通道光收发器件，通过增加传输信道的集成度来达到增加通信传输系统总容量的目的。例如，在光纤通信的波分复用(Wavelength Division Multiplexing，以下简称：WDM)技术中使用的光集成器件(Photonic Integrated Device，以下简称：PID)即在单芯片中集成了多路不同波长光的传输通道。现有技术对多通道光收发器件例如PID器件的测试是通过将PID器件连接在测试板上，并由测试仪表、测试板和PID器件共同搭建形成光传输链路的测试系统来进行测试的。

图1为现有技术提供的测试板应用于测试系统的系统架构图，如图1所示，现有技术中针对多通道光收发器件的性能测试，以PID器件为例，是通过将测试仪表脉冲信号发生器(Pulse Pattern Generator，以下简称：PPG)、误码检测单元(Error Detector，以下简称：ED)与测试板(TESTBENCH)、连接在该测试板上的PID器件连接成供测试数据传输的端到端的传输链路，并将同种测试项目的测试信号逐次输入PID器件的每个传输通道中来完成整个PID器件各传输通道的性能测试。图1中的PID器件具有N个光传输通道，包括合波器(MUX)、分波器(DEMUX)、激光器(Laser)、驱动器(Driver)、光电二极管(PIN)和数据恢复部件(CDR)等功能部件，该PID器件的收发电接口和测试板上的输入输出接口连接，并通过该输入输出接口和测试板的对外接口相通。如图1所示，该测试板的测试信号接收端和发送端分别具有N个对外接口，该N个对外接口分别和PID器件中集成的N个测试通道相通。外部仪表PPG和ED通过电缆连线连接到测试板的对外接口上。在测试中，测试信号或串扰测试中的干扰信号在PID器件传输通道之间的切换均是通过手工切换外部测试仪表PPG、ED与测试板对外接口的电缆连线来实现的。

设计人在实现本实用新型的过程中发现，上述PID器件等多通道光收发器件的性能测试尚存在如下技术缺陷：

1、测试过程中人工手动切换测试通道会使得测试效率较低，延长了多通道光收发器件的测试周期；而且，长期测试会对测试板的对外接口造成可观的磨损，缩短测试板的使用寿命；此外，手动切换中的过多外力介入，会对整套测试环境造成影响，降低测试数据的可信度；

2、多通道光收发器件中集成多路传输通道会使得测试板的对外接口也相应较多，对测试板的布局布线和对外接口的排布造成很大压力。

实用新型内容

本实用新型实施例提供一种测试板，解决现有手动切换测试通道导致的测试效率和测试数据可信度均较低的问题，实现测试通道间的自动切换，提高测试效率和测试数据的可信度，并且减少对测试板对外接口的磨损，降低了测试板的复杂度。

本实用新型实施例提供一种测试板，包括：

用于将测试信号发送至自动选通的多通道光收发器件中的待测通道的第一电交叉单元，所述第一电交叉单元包括用于接收测试信号的一个第一输入端和用于分别连通多通道光收发器件中多个通道的多个第一输出端；以及，

用于将所述待测通道输出的测试信号自动输出至信号检测单元的第二电交叉单元，所述第二电交叉单元包括用于分别连通多通道光收发器件中多个通道的多个第二输入端和用于与所述信号检测单元连接的一个第二输出端。

本实用新型实施例的测试板通过设置电交叉单元，利用该电交叉单元将测试信号自动发送至多通道光收发器件中的待测通道，并自动接收及将该待测通道输出的测试信号输出至信号检测单元，解决了现有测试方法的效率和测试数据可信度均较低的问题，实现了待测通道间的自动切换，提高了测试效率和测试数据的可信度，并且可以减少测试板对外接口的磨损，降低测试板的复杂度。

附图说明

图1为现有技术提供的测试板应用于测试系统的系统架构图；

图2为本实用新型实施例一提供的测试板的结构示意图；

图3为本实用新型实施例二提供的测试板的结构示意图；

图4为本实用新型实施例二提供的测试板应用于测试系统的系统架构图。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例进一步说明本实用新型实施例的技术方案。