[发明专利]用于确认仪器中带电粒子产生的方法及相关的仪器

说明书

本发明提供多种用于确认一仪器中带电粒子产生的方法。一种确认一仪器中带电粒子产生的方法包括：当所述带电粒子光学系统位于一腔室时，为所述仪器的一带电粒子光学系统提供电连接。所述方法包括：将一电子部件耦合到在所述腔室内产生的带电粒子电流，所述电子部件包括一阻抗。此外，所述方法包括：通过所述电子部件测量对所述带电粒子电流的一电响应。本发明还提供多种相关的仪器。

相关申请

本申请主张于2018年2月13日提交的美国临时专利申请序号62/629,854的权益及优先权，其内容通过引用结合于本文中，如同在此全文引用一样。

技术领域

本发明涉及多种质谱仪及其他多种用于产生带电粒子的仪器。

背景技术

质谱仪是将样品电离，然后确定所形成的离子集合的质荷比的装置。飞行时间质谱仪(TOFMS)是一种著名的质谱仪，在这种质谱仪中，离子的质荷比取决于在电场作用下，一离子从所述离子源传输到一检测器所需的时间。TOFMS中的光谱质量反映了离子束加速进入一无场漂移区(field free drift region)之前的所述离子束的初始条件。具体地，导致相同质量的离子具有不同的动能及/或从空间中的不同位点加速的任何因素都可能导致一光谱分辨率下降，从而导致一质量准确度下降。

基质辅助激光解吸电离(MALDI)是一种制备用于质谱分析的气相生物分子离子的方法。MALDI-TOF延迟萃取技术(DE)的发展使得基于MALDI仪器的高分辨率分析成为常规。在DE-MALDI中，在激光触发电离事件及加速脉冲应用于TOF源区之间增加了一个短延迟。快离子(即高能离子)比慢离子走得更远，从而将电离时的能量分布转化为加速时的一空间分布(在提取脉冲应用之前的电离区域)。

参见美国专利第5625184号、第5627369号、第5760393号及第9536726号。另请参见Wiley等人的《提高分辨率的飞行时间质谱仪》，科学仪器评论期刊，第26卷，第12期，第1150至1157页(2004年)；M.L.Vestal的《现代MALDI飞行时间质谱法》，《质谱学期刊》，第44卷，第3期，第303至317页(2009年)；Vestal等人的《基质辅助激光解析电离飞行时间的分辨率及质量准确度》，《美国质谱学会杂志》，第9卷，第9期，第892至911页(1998年)；以及Vestal等人的《蛋白质组学的高性能MALDI-TOF质谱法》，国际质谱杂志，第268卷，第2期，第83至92页(2007年)。这些文件的内容在此以引用的方式并入本文件，如同在本文中完整地叙述一样。

发明内容

本发明的实施例涉及多种用于确认带电粒子产生的方法。根据一些实施例，一种用于确认一仪器中带电粒子产生的方法，所述方法包括：当一带电粒子光学系统位于一腔室时，为所述质谱仪的所述带电粒子光学系统提供电连接。所述方法可包括：将一电子部件耦合到在所述腔室内产生的带电粒子电流，所述电子部件包括一阻抗。此外，所述方法可包括：通过所述电子部件测量对所述带电粒子电流的一电响应。

在一些实施例中，为所述带电粒子光学系统提供所述电连接可包括：接地或施加一电压到所述带电粒子光学系统的多个相邻的离子光学屏或多个板。所述电子部件可包括位于所述腔室外面的一电组器，以及所述阻抗可包括所述电阻器的一电阻值，所述电阻值介于10千欧姆(kΩ)及100兆欧姆(MΩ)之间。此外，接地或施加所述电压到所述带电粒子光学系统的多个相邻的离子光学屏或多个板可包括：将所述带电粒子光学系统的一提取板接地；当一后偏置板在所述腔室中且所述电阻在所述腔室外部时，将所述电阻器的一第一侧连接到所述带电粒子光学系统的所述后偏置板；当一电源在所述腔室外部时，将所述电源连接到所述电阻器的一第二侧；以及当所述电源在所述腔室外部时，经由所述电源施加所述电压。