[发明专利]一种成测烧调电路、芯片以及方法

说明书

本发明公开了一种成测烧调电路，包括计数器及烧调脉冲产生电路、烧调数据锁存电路、烧调数据编码电路、选择电路、至少一组烧调电路，本发明使用的成测烧调方式不需要特殊工艺，通过在成测时对封装片进行烧调，由于封装片已经计入了打线、塑封导致的参数偏移，在此基础上进行参数烧调，可实现更高、更精准的精度，本发明以更低廉的方式实现了类同于OTP方式的烧调，而且本发明的烧调电路实现简单，比如可以只需要普通MOS开关管即可实现烧调功能，而且本发明的计数扫描方式实现自检测功能、提升参数检测精度；进一步地，烧调检测及上电锁存电路可实现极低的功耗，特殊处理的烧调电路可保证芯片具有更高的可靠性。

技术领域

本发明涉及芯片烧调领域，尤其涉及一种成测烧调电路、芯片以及方法。

背景技术

目前常用的参数烧调方式基本分为中测烧调(晶圆级)、成测烧调(芯片级)两种。

其中，中测烧调分为下述两种方法：

1)纯PAD烧调：此方法简单，无需烧调数据检测电路，但需要增加烧调PAD个数；

2)PAD烧调及烧调数据检测电路：此方法虽然减少了PAD个数，但需要额外的检测电路，同时检测电路会带来一定的功耗。

目前常用的中测烧调，由于测试针卡的扎针力度及测试机参数测试环境均可能导致参数测量值和实际值存在差异，如果按照异常的测量值进行烧调，会导致参数出现不可逆的偏移，最终体现为芯片的精度较差。同时晶圆通过打线、塑封形成封装片也会导致参数发生离散，最终也会体现为芯片的精度较差。

其中，成测烧调分为下述两种方法：

1)OTP烧调：通过一次性不可擦除电路来实现，此方法需要特殊工艺，同时对芯片设计公司的设计能力要求较高，无论是自行设计或者购买IP均需要较高的成本；

2)存储器烧调：通过编写可擦写存储电路来实现，同样此方法需要特殊工艺，同时对芯片设计公司的设计能力要求较高，无论是自行设计或者购买IP均需要较高的成本。

发明内容

本发明要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述缺陷，提供一种成测烧调电路、芯片以及方法。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：构造一种成测烧调电路，包括计数器及烧调脉冲产生电路、烧调数据锁存电路、烧调数据编码电路、选择电路、至少一组烧调电路，其中：

烧调电路，每一个芯片参数对应一组烧调电路，每一组烧调电路包括多个烧调电路，每一个烧调电路对应参数的一个烧调位；

计数器及烧调脉冲产生电路，用于在接收到有效的一组烧调使能信号时，输出顺序扫描的一组计数信号至参数检测电路以及烧调数据锁存电路，以及输出一组烧调脉冲信号至所述选择电路，其中：所述参数检测电路可利用顺序扫描的所述计数信号对当前待检测参数进行比对检测并在检测到对应的参数值时输出检测信号；

烧调数据锁存电路，用于在接收到所述检测信号时锁存当前的一组计数信号，并将锁存的计数信号发往所述烧调数据编码电路；

烧调数据编码电路，用于基于编码表将锁存的计数信号进行编码后输出烧调编码信号，其中：每一种长度的计数信号对应一份编码表，在同一份编码表中越靠近中心点的计数信号所对应的烧调编码信号的烧调位越少；

选择电路，用于根据所接收的有效的一组烧调使能信号、所述烧调编码信号和一组烧调脉冲信号，选择当前待检测参数所对应的一组烧调电路中的具体的烧调电路执行烧调。

优选地，所述成测烧调电路还包括：

烧调检测及上电锁存电路，每一个烧调电路对应一个所述烧调检测及上电锁存电路，所述烧调检测及上电锁存电路用于在接收到上电复位信号时启动烧调检测功能以检测对应的烧调位是否进行了烧调，并在检测完成后对烧调检测信号进行锁存，锁存完毕后关闭烧调检测功能。