[发明专利]一种SC切型石英晶片在线研磨的测频测试方法

权利要求书

1.一种SC切型石英晶片在线研磨的测频测试方法，其特征在于，包括单次扫频双谐振频率波形匹配功能、单次扫频谐振频率数据处理功能、单位时间内数据处理功能；具体过程如下：

1.1）参数设置步骤：读取系统中掉电存储模块内测频测试参数和SC切型石英晶片设置参数；

测频测试参数，通过掉电存储模块读取，其包括扫频参数和测频参数；其中扫频参数包括扫频起始频率和扫频截止频率、扫频步进、扫频速度、扫频幅度，测频参数包括高频搜索宽度、低频搜索宽度和峰值约束； SC切型石英晶片设置参数，通过掉电存储模块读取，其包括SC频率比、频率比上限、频率比下限；SC频率比为SC切型石英晶片高频频率和低频频率的比值；

对上述参数进行约束条件判断，若上述参数存在不满足约束条件的情况，则将其根据新设置的值写入到掉电存储模块内，若掉电存储模块中不存在上述参数，则将上述参数设置为默认值，并将其写入掉电存储模块；

其中，扫频截止频率和扫频起始频率的差值为扫频范围，扫频起始频率和扫频截止频率的取值范围为1MHz~120MHz，同时扫频截止频率至扫频起始频率必须满足大于0MHz小于20MHz，若不满足则将起始频率和截止频率设置为默认值，起始频率默认值为9MHz，截止频率默认值为11MHz；

扫频步进的取值范围为100Hz~8000Hz，若不满足条件，则根据扫频范围设置扫频步进，当扫频范围小于2MHz时，设置扫频步进为1000Hz，当扫频范围为2MHz~4MHz，设置扫频步进为2000Hz，当扫频范围为4MHz~6MHz，设置扫频步进为3000Hz，当扫频范围大于6MHz，设置扫频步进为4000Hz；

扫频速度的取值范围为2uS~100uS，若不满足条件，则设置为默认值50uS；

扫频范围、扫频步进和扫频速度三者之间需满足的约束条件为：（扫频范围/扫频步进*扫频速度）4mS，若不满足，需将这几个参数设置为默认值

将上述测频测试参数和SC切型石英晶片参数分别发送给显示模块显示，用户根据需要进行参数修改，若修改后的参数与当前MCU中存储的值不同，则将MCU中的值更新为显示的新参数值；

1.2）扫频准备步骤：对测频测试功能的相关变量进行初始化，变量包括界面显示的变量、统计变量和测频变量；在扫频模块开始扫频前，先将上升沿和下降沿的信号采样次数清零，将上升沿和下降沿扫频信号采样完成标志位清零；根据测频测试的界面中设置的扫频参数设置扫频模块的参数、控制扫频模块进行扫频；

1.3）波形匹配步骤：步骤1.2）中若上升沿或者下降沿采样完成，则进入单次扫频双谐振频率波形匹配功能，单次扫频双谐振频率波形匹配后进行单次扫频谐振频率数据处理，获得单位时间内高频谐振频率和低频谐振频率的平均值，用于下次数据处理比较使用，同时将单次扫频相关变量清零；当单位时间内数据处理中设定的单位时间到达后，进行相关的数据处理，对单位时间内测到的所有高频和低频谐振频率求平均值和标准差，得到实时峰高和谐振宽度的平均值，高频频率和低频频率的比值，同时设置界面测频结果指示灯，并将相关数据处理完成后，将这些数据发送给显示模块进行显示，完成本轮单位时间内的测频过程后，将高频谐振频率平均值的初始值设置为扫频截止频率，低频谐振频率平均值的初始值设置为扫频起始频率，同时将高频和低频对应的频率、峰高、线宽统计变量清零。