[实用新型]单片集成式VCSEL芯片有效
申请号: | 202021910589.6 | 申请日: | 2020-09-04 |
公开(公告)号: | CN212784190U | 公开(公告)日: | 2021-03-23 |
发明(设计)人: | 郭铭浩;林珊珊;王立;李念宜 | 申请(专利权)人: | 宁波睿熙科技有限公司 |
主分类号: | H01S5/42 | 分类号: | H01S5/42;H01S5/183;H01S5/187 |
代理公司: | 宁波理文知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 33244 | 代理人: | 罗京;孟湘明 |
地址: | 315408 浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 单片 集成 vcsel 芯片 | ||
1.一种单片集成式VCSEL芯片,其特征在于,包括:
第一VCSEL子芯片,所述第一VCSEL子芯片包括以第一阵列布设的多个第一VCSEL单元;以及
与所述第一VCSEL子芯片单片集成地第二VCSEL子芯片,所述第二VCSEL子芯片包括以第二阵列布设的多个第二VCSEL单元;
其中,所述第一VCSEL子芯片中各所述第一VCSEL单元产生的激光从所述VCSEL芯片的第一侧出射,所述第二VCSEL子芯片中各所述第二VCSEL单元产生的激光从所述VCSE芯片的与所述第一侧相对的第二侧出射;
其中,所述第一VCSEL子芯片与所述第二VCSEL子芯片在结构上共用N-DBR结构。
2.根据权利要求1所述的单片集成式VCSEL芯片,其中,所述第一VCSEL单元和所述第二VCSEL单元分别包括:衬底、形成于所述衬底的N-DBR层、位于所述N-DBR层上方的有源区、用于限制发光孔径的氧化限制层、位于所述有源区上方的P-DBR层、用于导通所述有源区的正极和负极,其中,各所述第一VCSEL单元和各所述第二VCSEL单元之间设有电隔离区,其中,各所述第一VCSEL单元的N-DBR层和各所述第二VCSEL单元的N-DBR层相互耦接以形成第一所述VCSEL子芯片和所述第二VCSEL子芯片共用的所述N-DBR结构。
3.根据权利要求2所述的单片集成式VCSEL芯片,其中,所述第一VCSEL子芯片的所述第一VCSEL单元与所述第二VCSEL子芯片的所述第二VCSEL单元以相互交替的方式形成于所述VCSEL芯片的相对的所述第一侧和第二侧。
4.根据权利要求2所述的单片集成式VCSEL芯片,其中,所述第一VCSEL子芯片的所述第一VCSEL单元与所述第二VCSEL子芯片的所述第二VCSEL单元对称地形成于所述VCSEL芯片的相对的所述第一侧和第二侧。
5.根据权利要求2所述的单片集成式VCSEL芯片,其中,所述第二VCSEL子芯片的所述第二VCSEL单元连续地形成于所述第一VCSEL子芯片的所述第一VCSEL单元之间,且所述第一VCSEL子芯片的所述第一VCSEL单元与所述第二VCSEL子芯片的所述第二VCSEL单元形成于所述VCSEL芯片的相对的所述第一侧和第二侧。
6.根据权利要求3或5所述的片集成式VCSEL芯片,其中,在各所述第一VCSEL单元中,所述N-DBR层的反射率高于所述P-DBR层的反射率,以使得所述第一VCSEL单元产生的激光从VCSEL芯片的第一侧出射,在各所述第二VCSEL单元中,所述N-DBR层的反射率低于所述P-DBR的反射率,以使得所述第一VCSEL单元产生的激光从VCSEL芯片的与所述第一侧相对的所述第二侧出射。
7.根据权利要求6所述的单片集成式VCSEL芯片,其中,在各所述第一VCSEL单元中,所述P-DBR层的层数大于所述N-DBR的层数;在各所述第二VCSEL单元中,所述P-DBR层的层数小于所述N-DBR的层数。
8.根据权利要求7所述的单片集成式VCSEL芯片,其中,在各所述第一VCSEL单元中,所述P-DBR层的层数范围为15层至45层,所述N-DBR的层数范围为15层至45层;在各所述第二VCSEL单元中,所述P-DBR层的层数范围为15层至45层,所述N-DBR的层数范围为15层至45层。
9.根据权利要求4所述的单片集成式VCSEL芯片,其中,在各所述第一VCSEL单元中,所述N-DBR层的反射率高于所述P-DBR层的反射率,以使得所述第一VCSEL单元产生的激光从VCSEL芯片的第一侧出射,在各所述第二VCSEL单元中,所述N-DBR层的反射率高于所述P-DBR的反射率,以使得所述第一VCSEL单元产生的激光从VCSEL芯片的与所述第一侧相对的所述第二侧出射。
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