[发明专利]马赫曾德尔干涉仪级联梳状滤波器及波分复用/解复用器在审

专利信息
申请号: 202310060307.X 申请日: 2023-01-18
公开(公告)号: CN116381862A 公开(公告)日: 2023-07-04
发明(设计)人: 王斌浩;薛锦涛;任洋明 申请(专利权)人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
主分类号: G02B6/28 分类号: G02B6/28;G02B6/293
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 冯素玲
地址: 710119 陕西省西*** 国省代码: 陕西;61
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 马赫 曾德尔 干涉仪 级联 滤波器 波分复用 解复用器
【权利要求书】:

1.一种马赫曾德尔干涉仪级联梳状滤波器,其特征在于:

包括n级相接的梳状滤波单元,第m级梳状滤波单元包括2m-1个梳状滤波器,第m-1级梳状滤波单元中的各个梳状滤波器均具有两个输出端,分别与第m级梳状滤波单元中对应的两个梳状滤波器的输入端相接,n≥1且为整数,m=2,…,n;

所述梳状滤波器包括a个马赫曾德尔干涉仪(1),a≥1且为整数;

所述马赫曾德尔干涉仪(1)包括沿光波的传输方向依次设置第一光耦合组件(11)、传输波导(16)及第二光耦合组件(12);所述传输波导(16)包括第一路传输波导和第二路传输波导,第一路传输波导设置有相位延时波导(14),TE偏振光和TM偏振光经过相位延时波导(14)后,TE偏振与TM偏振光之间的相位差为2πA,A为正整数,且TE偏振光和TM偏振光的群折射率差在15%以内;

第一光耦合组件(11)包括第一耦合器及设置在第一耦合器两端的两路第一耦合器输入波导(17)和两路第一耦合器输出波导,第二光耦合组件(12)包括第二耦合器及设置在第二耦合器两端的两路第二耦合器输入波导和两路第二耦合器输出波导(18),两路第一耦合器输出波导分别与第一路传输波导、第二路传输波导的输入端相接,第一路传输波导和第二路传输波导的输出端分别与两路第二耦合器输入波导相接;

第b-1个马赫曾德尔干涉仪(1)的第二光耦合组件(12)同时作为第b个马赫曾德尔干涉仪(1)的第一光耦合组件(11),其中,b=2,…,a;

第a个马赫曾德尔干涉仪(1)的两路第二耦合器输出波导(18)与下一级梳状滤波单元中对应的两个梳状滤波器的第1个马赫曾德尔干涉仪(1)的第一光耦合组件(11)相接。

2.根据权利要求1所述的马赫曾德尔干涉仪级联梳状滤波器,其特征在于:

所述第一耦合器和第二耦合器为分段式弯曲定向耦合器(13)或多模干涉耦合器(15);

分段式弯曲定向耦合器(13)或多模干涉耦合器(15)在TE偏振模式和TM偏振模式下的分光比相同。

3.根据权利要求2所述的马赫曾德尔干涉仪级联梳状滤波器,其特征在于:

所述分段式弯曲定向耦合器(13)包括第一耦合区(131)和第二耦合区(132),所述第一耦合区(131)内TE偏振光和TM偏振光均发生耦合,第二耦合区(132)内TM偏振光发生耦合;所述第一耦合区(131)为共圆心的两条第一耦合区弯曲波导,两条第一耦合区弯曲波导的半径不等;第二耦合区(132)为共圆心的两条第二耦合区弯曲波导,两条第二耦合区弯曲波导的半径不等;两条第二耦合区弯曲波导的间距大于两条第一耦合区弯曲波导的间距,第一耦合区(131)和第二耦合区(132)之间用直波导或S型波导连接;

相邻所述分段式弯曲定向耦合器(13)的弯曲方向相反,用于抵消第一路传输波导和第二路传输波导之间因分段式弯曲定向耦合器(13)引起的相位差。

4.根据权利要求2所述的马赫曾德尔干涉仪级联梳状滤波器,其特征在于:

所述多模干涉耦合器(15)包括依次相接的一个或两个输入段(151)、多模干涉区域(152)及两个输出段(153);

所述输入段(151)与第一耦合器输入波导(17)或第二耦合器输入波导相接,输入段(151)为第一条形波导,第一条形波导宽度与第一耦合器输入波导(17)或第二耦合器输入波导的宽度相同;输出段(153)与第一耦合器输出波导或第二耦合器输出波导(18)相接,输出段(153)为第二条形波导,第二条形波导与第一耦合器输出波导或第二耦合器输出波导(18)宽度相同;其中,第一条形波导、第一耦合器输入波导(17)、第二耦合器输入波导、第二条形波导、第一耦合器输出波导及第二耦合器输出波导(18)垂直于光波传输方向的截面为矩形,所述矩形的宽度为对应波导的宽度;

所述多模干涉区域(152)采用神经网络算法进行逆向计算,用于获得多模干涉区域(152)的结构参数。

5.根据权利要求1-4任一所述的马赫曾德尔干涉仪级联梳状滤波器,其特征在于:

所述梳状滤波器包括一个马赫曾德尔干涉仪(1)或两个马赫曾德尔干涉仪(1)或三个马赫曾德尔干涉仪(1)。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院西安光学精密机械研究所,未经中国科学院西安光学精密机械研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202310060307.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top