[发明专利]一种计算机打印口测试治具、测试方法、装置、设备

说明书

本发明属于打印机接口测试技术领域，具体提供一种计算机打印口测试治具、测试方法、装置、设备，所述方法包括如下步骤：将测试治具安装在PC并口连接器上，启动联合操作系统；修改并口驱动程序，关闭中断IRQ7，编译完成后加载并行端口驱动模块；指定并口并设置数据输出方向为out；产生一个随机数，将产生的随机数写入数据寄存器；设定时间后依次读取数据输出寄存器、状态寄存器、控制寄存器的数据，并将读取的数据保存为对应的变量；将从数据寄存器、控制寄存器和状态寄存器读取的数据分别进行处理比较；当比较结果均相等时，测试通过，否则，测试失败。保证出货计算机能正常使用并口打印机。

技术领域

本发明涉及打印机接口测试技术领域，具体涉及一种计算机打印口测试治具、测试方法、装置、设备。

背景技术

随着国产PC，服务器，交换机的发展，本着降低成本和老旧设备替代的平滑运行，国产PC一般都会设计打印口(LPT)，用来连接老式的25针式打印机。而在工厂测试中，本着降低成本及测试时间的需求，不可能用打印机作为测试治具去测试，这就需要设计一种全新的测试覆盖率高，低成本，测试速度快的方法。

并口打印机主要在Linux kernel 2.6以前使用，过去的测试方法基本上都是基于Redhat Linux开发，直接访问I/O,但是国产PC基本上都设计有专用的国产操作系统，主要是UOS(Universe Operation System，联合操作系统，是统信软件技术有限公司研发的基于Linux内核的自主研发的操作系统),终端用户也是在UOS下使用，UOS的kernel基本都升级到4.19，所以已经不能直接通过直接访问I/O的方式去测试。原来的测试方法已经不能在国产PC的UOS操作系统下使用。

现有的技术方案基本上都是基于Intel，AMD的X86 CPU所做的开发，主要存在如下问题：(1)测试覆盖率不够，只测试了CPU到并口卡(国产PC的lpt是独立的PCIe插卡)寄存器的值，无法测试lpt连接器的机构部分，如果有焊接不良，无法甄别。(2)在UOS操作系统下，直接读写I/O难度较大，而且因为收UOS机构的影响，有大量的中断IRQ的影响，I/O读写的数据很容易受到其它进程的影响，准确性很差，产线程序运行起来误测较多。(3)这种测试覆盖率较低的方案，实际上给公司的国产PC出货带来了潜在的质量风险。

发明内容

针对现有的测试方法测试覆盖率不够，只测试了CPU到并口卡(国产PC的lpt是独立的PCIe插卡)寄存器的值，无法测试lpt连接器的机构部分，如果有焊接不良，无法甄别。在UOS操作系统下，直接读写I/O难度较大，而且因为收UOS机构的影响，有大量的中断IRQ的影响，I/O读写的数据很容易受到其它进程的影响，准确性很差，产线程序运行起来误测较多的问题，本发明提供一种计算机打印口测试治具、测试方法、装置、设备。

第一方面，本发明技术方案提供一种计算机打印口测试治具，包括LPT连接器公头，LPT连接器公头设置有二十五个引脚，LPT连接器公头的第一引脚与第二引脚连接，LPT连接器公头的第三引脚与第十六引脚连接，LPT连接器公头的第四引脚与第十四引脚连接，LPT连接器公头的第五引脚与第十七引脚连接，LPT连接器公头的第六引脚与第十三引脚连接，LPT连接器公头的第七引脚与第十二引脚连接，LPT连接器公头的第八引脚与第十引脚连接，LPT连接器公头的第九引脚与第十一引脚连接，LPT连接器公头的第十八引脚到第二十五引脚接地；LPT连接器公头的第七引脚通过二级管与第十五引脚连接。

作为本发明技术方案的进一步限定，LPT连接器公头的第七引脚连接二极管的阳极，第十五引脚连接二极管的阴极。

第二方面，本发明技术方案提供一种计算机打印口测试方法，包括如下步骤：

将测试治具安装在PC并口连接器上，启动联合操作系统；所述测试治具包括如第一方面所述的测试治具；

修改并口驱动程序，关闭中断IRQ7，编译完成后加载并行端口驱动模块；