[发明专利]角度检测装置和角度检测系统有效
申请号: | 03806092.2 | 申请日: | 2003-03-20 |
公开(公告)号: | CN1643341A | 公开(公告)日: | 2005-07-20 |
发明(设计)人: | 角田胜巳;克里斯蒂安·斯考特 | 申请(专利权)人: | 旭化成电子材料元件株式会社 |
主分类号: | G01D5/14 | 分类号: | G01D5/14;G01R33/02 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 岳耀锋 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 提供一种电路角度检测装置及磁场角度检测系统,结构简单且可以正确检测磁场角度。其中包括:霍尔元件(HE)、X/Y切换部(2)、调制和驱动部(4)、DDA(6)、P-P检测部(8)、S/H部(10、12)、后级处理电路(14)、S/H部(16)、保持分量指定电路(18)、X、Y指定输入部(20)以及运算放大器(22)。根据该角度检测装置,无需进行任何单独的求得sinθ和cosθ并进而求得tanθ的计算处理,就可以由S/H部(10、12)保持的X和Y分量直接获得tanθ。 | ||
搜索关键词: | 角度 检测 装置 系统 | ||
【主权项】:
1.一种角度检测装置,输入来自检测至少2个方向的磁分量的第1和第2磁传感器部的输出信号,从上述磁分量检测与磁场的相对角度,其特征在于包括:控制成使由上述第1磁传感器部检测的第1方向分量的输出信号具有一定值的控制单元;以及通过与利用上述控制单元控制上述第1磁传感器部时相同的驱动条件驱动上述第2磁传感器部,检测第2方向分量的输出信号的驱动单元。
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