[发明专利]带有抖动测量功能的半导体集成电路无效

专利信息
申请号: 200580028864.3 申请日: 2005-04-13
公开(公告)号: CN101010594A 公开(公告)日: 2007-08-01
发明(设计)人: 中平圭亮;渡边诚司;荒川哲男;竹屋章史;冈隆司 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R29/02
代理公司: 北京市金杜律师事务所 代理人: 季向冈
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 带有抖动测量功能的半导体集成电路包括:限幅器(11)、T/V转换器(12)、A/D转换器(13)、处理器(14)、多路转换器(15)以及校正单元(16)。限幅器(11)将输入信号2值化,生成数据信号。T/V转换器(12)输出与输入信号的数据长度对应的电压。多路转换器(15)切换数据信号和基准信号作为T/V转换器(12)的输入信号。A/D转换器(13)将T/V转换器(12)的输出电压转换成数字数据。处理器(14)基于该数字数据,测量T/V转换器(12)的输入信号的抖动。并且,校正单元(16)比较通过多路转换器(15)选择了基准信号时的T/V转换器(12)的输出电压和预定的电压,基于该比较结果,进行T/V转换器(12)的输出特性的校正。
搜索关键词: 带有 抖动 测量 功能 半导体 集成电路
【主权项】:
1.一种半导体集成电路,其特征在于,包括:限幅器,将输入信号2值化,生成数据信号;T/V转换器,输出与输入信号的数据长度对应的电压;多路转换器,切换所述数据信号和基准信号作为所述T/V转换器的输入信号;A/D转换器,将所述T/V转换器的输出电压转换成数字数据;处理器,基于所述数字数据,测量所述T/V转换器的输入信号的抖动;校正单元,比较通过所述多路转换器选择了所述基准信号时的所述T/V转换器的输出电压、和预定的电压,基于该比较结果,进行所述T/V转换器的输出特性的校正。
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