[发明专利]栅电极叠层和栅电极叠层的使用无效

专利信息
申请号: 200610074341.9 申请日: 2006-04-07
公开(公告)号: CN1845336A 公开(公告)日: 2006-10-11
发明(设计)人: U·埃格尔;M·戈德巴赫;吴东平 申请(专利权)人: 英飞凌科技股份公司
主分类号: H01L29/43 分类号: H01L29/43;H01L29/78;H01L21/28;H01L21/336
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 王岳;梁永
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明涉及半导体器件中的衬底上的栅电极叠层,其包括具有下述的栅极导体:a)至少一个多晶硅层,和b)至少一个多晶Si1-xGex材料层。本发明还涉及工艺。由于实现了终点检测,因此能够有效地刻蚀这种结构。
搜索关键词: 电极 使用
【主权项】:
1.在半导体器件中的衬底上的栅电极叠层,包括具有下述的栅极导体:a)至少一个多晶硅层,和b)至少一个多晶Si1-xGex材料层。
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  • 喻志农;李旭远;张世玉;蒋玉蓉;薛唯 - 北京理工大学
  • 2013-12-03 - 2014-02-19 - H01L29/43
  • 本发明基于薄膜光学中诱导透射滤光片的原理,提出一种氧化物-金属-氧化物三明治结构的透明导电薄膜用于铟镓锌氧化物薄膜晶体管(IGZOTFT)电极(包括源极、漏极和栅极)。透明导电薄膜的氧化物层采用铟镓锌氧化物(IGZO)和锰氧化物复合层,金属层采用金属铜(Cu);锰氧化物在金属铜层和铟镓锌氧化物层之间,增加铜层和铟镓锌氧化物层的粘附性并阻止铜向铟镓锌氧化物层扩散。本发明中提出的透明导电薄膜用作IGZOTFT的源极、漏极和栅极时,透明导电薄膜能够与IGZOTFT的有源层形成接触电阻低的欧姆接触,并且使IGZOTFT具有良好的透光性和电特性。
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