[实用新型]一种工件台平衡定位装置有效

专利信息
申请号: 200720076162.9 申请日: 2007-11-14
公开(公告)号: CN201134009Y 公开(公告)日: 2008-10-15
发明(设计)人: 王占祥;袁志扬;严天宏 申请(专利权)人: 上海微电子装备有限公司
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20;H01L21/68
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 201203上海市*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 实用新型公开了一种工件台平衡定位装置,涉及半导体光刻技术领域。该工件台平衡定位装置包括基础框架、长行程模块、曝光台、平衡质量系统、平衡质量防漂系统、测量系统和控制系统;长行程模块建立在平衡质量系统上,带动曝光台沿X、Y向运动;平衡质量系统建立在基础框架上,包括主平衡质量和辅平衡质量,用于平衡系统的反作用力和反作用力矩;平衡质量防漂系统安装在基础框架和主平衡质量之间,用于补偿平衡质量系统沿X、Y和Rz向的漂移;控制系统根据测量系统的反馈数据控制长行程模块的运动及主平衡质量的位置补偿。本实用新型大幅减少了工件台加速运动时对光刻机基础的反作用力,降低了光刻机的减振难度,提高了工件台的定位精度。
搜索关键词: 一种 工件 平衡 定位 装置
【主权项】:
1.一种工件台平衡定位装置,其包括基础框架、长行程模块、曝光台、平衡质量系统、平衡质量防漂系统、测量系统和控制系统,其特征在于,所述长行程模块建立在平衡质量系统之上,带动曝光台沿X、Y向运动;平衡质量系统建立在基础框架之上,包括主平衡质量和辅平衡质量,分别用于平衡曝光台在长行程模块的带动下进行加速运动时产生的反作用力和反作用力矩;平衡质量防漂系统安装在基础框架和平衡质量系统之间,补偿平衡质量系统沿X、Y和Rz向的漂移运动;测量系统安装在所述长行程模块和主平衡质量上,为控制系统提供反馈数据;控制系统根据反馈数据控制长行程模块的运动及主平衡质量的位置补偿。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海微电子装备有限公司,未经上海微电子装备有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200720076162.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top