[发明专利]半导体器件及其制造方法无效

专利信息
申请号: 200810169138.9 申请日: 2008-10-22
公开(公告)号: CN101442064A 公开(公告)日: 2009-05-27
发明(设计)人: 藤本博昭;富田佳宏 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146;H01L33/00;H01L23/48;H01L21/50;H01L21/60;H01L21/78;H01S5/00
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 代理人: 张 鑫
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明在半导体元件(6)的电极部(3)上形成突起部(4),是与该突起部(4)抵接的结构,用粘接剂(8)将光学构件(7)固定于半导体元件(6)上。
搜索关键词: 半导体器件 及其 制造 方法
【主权项】:
1. 一种半导体器件,其特征在于,具有:在1主面形成有连接突起部的多个电极部的半导体元件;以及对所述半导体元件利用透明粘接构件进行粘接的光学构件、使其覆盖所述突起部和所述电极部,所述光学构件与所述突起部连接,所述透明粘接构件的相对于应力的位移量相比所述突起部要大,而且,所述多个电极部通过形成于所述半导体元件的导通用贯通孔,与形成于所述半导体元件的另一面的外部电极电连接。
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