[发明专利]高压元件及其制造方法无效

专利信息
申请号: 201210105525.2 申请日: 2012-04-11
公开(公告)号: CN103378145A 公开(公告)日: 2013-10-30
发明(设计)人: 黄宗义;邱建维 申请(专利权)人: 立锜科技股份有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/06;H01L29/36;H01L21/336;H01L21/265
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 陈肖梅;谢丽娜
地址: 中国台湾新*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明提出一种高压元件及其制造方法,高压元件形成于第一导电型基板中,且另有一低压元件亦形成于同一基板中。该高压元件包含漂移区、栅极、源极与漏极、以及缓和区。其中,缓和区具有第二导电型,形成于漂移区中,且缓和区介于栅极与漏极之间。此外,缓和区与低压元件中的轻掺杂漏极(lightly doped drain region,LDD)区,利用相同制程步骤所形成。
搜索关键词: 高压 元件 及其 制造 方法
【主权项】:
一种高压元件,形成于一第一导电型基板中,且另有一低压元件形成于该基板中,该基板具有一上表面,其特征在于,该高压元件包含:一漂移区,形成于该上表面下方,其具有第二导电型;一栅极,形成于该上表面上方,且至少部分该漂移区位于该栅极下方;一源极与一漏极,皆具有第二导电型,分别形成于栅极两侧的上表面下方,且该漏极位于该漂移区中,而该漏极与该栅极间,由该漂移区隔开;以及一缓和区,具有第二导电型,形成于该上表面下方的该漂移区中,且该缓和区介于该栅极与该漏极之间,且该缓和区与该低压元件中的一轻掺杂漏极区,利用相同制程步骤所形成。
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