[发明专利]肖特基二极管及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201210581204.X 申请日: 2012-12-27
公开(公告)号: CN103050548A 公开(公告)日: 2013-04-17
发明(设计)人: 王剑敏 申请(专利权)人: 北京燕东微电子有限公司
主分类号: H01L29/872 分类号: H01L29/872;H01L29/06;H01L29/47;H01L21/329;H01L21/28
代理公司: 北京正理专利代理有限公司 11257 代理人: 张雪梅
地址: 100015 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种肖特基二极管及其制造方法。该肖特基二极管,包括阴极金属层,阴极金属层上的N型硅芯片,该N型硅芯片上具有开口的绝缘层,位于所述开口中及所述绝缘层上的阳极金属层。该肖特基二极管进一步包括该N型硅芯片中位于所述阳极金属层下方的金属硅化物层,以及该N型硅芯片中位于所述金属硅化物层周围的高浓度P型掺杂内环和位于所述高浓度P型内环外侧的高浓度P型掺杂外环;所述阳极金属层由钛铝金属构成。根据本发明制作而得的肖特基二极管,不仅其性能参数得到了改善,并且在不增加工艺步骤的情况下其生产制作的成品率获得显著提高。
搜索关键词: 肖特基 二极管 及其 制造 方法
【主权项】:
一种肖特基二极管,包括阴极金属层;阴极金属层上的N型硅芯片;该N型硅芯片上具有开口的绝缘层;位于所述开口中及所述绝缘层上的阳极金属层;其特征在于,该肖特基二极管进一步包括,该N型硅芯片中位于所述阳极金属层下方的金属硅化物层,以及该N型硅芯片中位于所述金属硅化物层周围的高浓度P型掺杂内环和位于所述高浓度P型内环外侧的高浓度P型掺杂外环。
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