[实用新型]一种DSP芯片功能测试装置有效
| 申请号： | 201220262432.6 | 申请日： | 2012-06-05 |
| 公开（公告）号： | CN202614902U | 公开（公告）日： | 2012-12-19 |
| 发明（设计）人： | 潘勇先;刘丽 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第三十八研究所 |
| 主分类号： | G01R31/3181 | 分类号： | G01R31/3181 |
| 代理公司： | 安徽汇朴律师事务所 34116 | 代理人： | 方荣肖 |
| 地址： | 230031 安徽省合*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种DSP芯片功能测试装置，其用于检测待测DSP芯片的功能，其包括电路板以及安装在电路板上的DSP芯片插座、FPGA芯片、SDRAM芯片、FLASH芯片、功能合格的DSP芯片以及故障指示灯，DSP芯片插座插接待测DSP芯片，待测DSP芯片的四个链路口分别与功能合格的DSP芯片的四个链路口电性连接，两个DSP芯片均通过地址总线和数据总线与FPGA芯片、SDRAM芯片、FLASH芯片连接，故障指示灯与FPGA芯片连接。本实用新型的优点在于：可以对ADSP-TS201器件自动进行功能测试，从而可以判定器件可不可以正常工作，提早发现有问题的器件，可以缩短产品开发周期、降低成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 dsp 芯片 功能 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种DSP芯片功能测试装置，其用于检测待测DSP芯片的功能，其特征在于，其包括电路板以及安装在电路板上的DSP芯片插座、FPGA芯片、SDRAM芯片、FLASH芯片、功能合格的DSP芯片以及故障指示灯，DSP芯片插座插接待测DSP芯片，待测DSP芯片的四个链路口分别与功能合格的DSP芯片的四个链路口电性连接，两个DSP芯片均通过地址总线和数据总线与FPGA芯片、SDRAM芯片、FLASH芯片连接，故障指示灯与FPGA芯片连接。
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