[发明专利]一种噪声系数测量方法及噪声系数标准器

摘要

本发明公开了一种噪声系数测量方法及噪声系数标准器，属于测量技术领域。所述方法包括提供一噪声系数标准器，噪声系数标准器在各个低频频点的噪声系数为定值；采用噪声系数测量仪对噪声系数标准器进行测量，得到噪声系数标准器在待测低频频点的噪声系数测量值；采用噪声系数测量仪对待测器件进行测量，得到待测器件在待测低频频点的噪声系数测量值；根据噪声系数标准器在待测低频频点的噪声系数定值、噪声系数标准器在待测低频频点的噪声系数测量值、以及待测器件在待测低频频点的噪声系数测量值，计算待测器件在待测低频频点的噪声系数。本发明解决了现有技术不能对器件的低频噪声系数进行测量的问题。

主权项

一种噪声系数测量方法，其特征在于，所述方法包括：提供一噪声系数标准器，所述噪声系数标准器在各个低频频点的噪声系数为定值，所述噪声系数标准器包括输入匹配单元、第一级放大电路、以及输出匹配单元，所述第一级放大电路分别与所述输入匹配单元和所述输出匹配单元连接，所述第一级放大电路包括多个并联的运算放大器，所述运算放大器为低频应用的运算放大器；采用噪声系数测量仪对所述噪声系数标准器进行测量，得到所述噪声系数标准器在待测低频频点的噪声系数测量值；采用所述噪声系数测量仪对待测器件进行测量，得到所述待测器件在所述待测低频频点的噪声系数测量值；根据所述噪声系数标准器在所述待测低频频点的噪声系数定值、所述噪声系数标准器在所述待测低频频点的噪声系数测量值、以及所述待测器件在所述待测低频频点的噪声系数测量值，计算所述待测器件在所述待测低频频点的噪声系数。