[发明专利]基于密度梯度图像处理法测试晶体密度连续分布的方法

摘要

本发明公开了一种基于密度梯度图像处理法测试晶体密度连续分布的方法，通过利用密度梯度管使晶体样品按照密度的差异在密度梯度管不同的位置自然沉降并稳定，再通过标准密度浮子标定和校正不同高度的液体密度，然后利用计算机成像技术获得样品颗粒在密度梯度管中的分布图像，通过图像处理软件将得到的分布图像转化为灰度图像，并将灰度图像通过数值计算转化为数字信号，获得图像灰度的分布曲线，在通过相关的坐标转化及灰度校正得到颗粒密度分布曲线，以此判定不同晶体样品的密度分布情况。本发明的方法可以快速测定类似含能材料晶体密度的连续分布，定量表征各密度梯度下的样品数量，实现对晶体颗粒密度分布的定量测试。

主权项

一种基于密度梯度图像处理法测试晶体密度连续分布的方法，其特征在于它包含以下步骤：A、配制密度连续且呈上轻下重均匀分布的密度梯度柱；B、称取待测晶体样品，将其缓慢加入步骤A的密度梯度柱的上表面，使其自然下沉至稳定停止在密度梯度柱中与其密度相等的位置；C、向步骤B的密度梯度柱投入密度均匀间隔分布的玻璃浮子，待其自然下沉至稳定停止在密度梯度柱中与其密度相等的位置；D、采用计算机视觉技术对所述密度梯度柱进行拍照采集，获得整个检测区域的视觉图像，然后将所述视觉图像转化为灰度图像，对待测晶体样品的灰度图像进行积分处理，得到待测晶体样品的灰度‑高度曲线；对玻璃浮子的灰度图像进行积分处理，读出每一颗玻璃浮子的对应高度，用其密度对高度作图得到密度梯度柱的高度‑密度曲线；E、以密度分布已知的晶体样品的质量含量‑灰度曲线与步骤D所述的灰度‑高度曲线转化得到待测晶体样品的质量含量‑高度曲线；F、将步骤D所述的高度‑密度曲线与步骤E所述的质量含量‑高度曲线转化为待测晶体样品的质量含量‑密度曲线，即为待测晶体样品的密度分布曲线。