[发明专利]应用于测试治具的连接器导通结构有效

专利信息
申请号: 201410670508.2 申请日: 2014-11-20
公开(公告)号: CN104391387A 公开(公告)日: 2015-03-04
发明(设计)人: 杜春红;许伟丽;邹伟金;徐江伟;王树雨;朱静 申请(专利权)人: 北京兆维电子(集团)有限责任公司
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13;G01R1/04
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 汤财宝
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及测试技术领域,公开了一种应用于测试治具的连接器导通结构,包括:支架、测试电路板、针模机构、电磁铁和供电开关,测试电路板安装在支架上;针模机构包括针模座、针模盖和针模,针模座安装在支架上,针模安装在针模座上,且针模与测试电路板连接,针模设有一个与待测试液晶模组屏的连接器公头相匹配的凹槽,针模盖用于盖合针模座。电磁铁固定在支架上;供电开关包括相匹配的第一导通模块和第二导通模块,第一导通模块固定在支架上;第二导通模块安装在电磁铁的铁芯上,电磁铁带动第二导通模块与第一导通模块接合或分离;供电开关通过供电电路与测试电路板连接。本发明实现待检测屏的快速装卸及自动点亮,提高模组屏检测效率。
搜索关键词: 应用于 测试 连接器 结构
【主权项】:
一种应用于测试治具的连接器导通结构,其特征在于,包括:支架、测试电路板、针模机构、电磁铁和供电开关,所述测试电路板安装在所述支架上;所述针模机构包括针模座、针模盖和针模,所述针模座安装在所述支架上,所述针模安装在所述针模座上,且所述针模与所述测试电路板连接,所述针模设有一个与待测试液晶模组屏的连接器公头相匹配的凹槽,所述针模盖用于盖合所述针模座;所述供电开关包括相匹配的第一导通模块和第二导通模块,所述第一导通模块固定在所述支架上;所述第二导通模块安装在所述电磁铁的铁芯上,所述电磁铁带动所述第二导通模块与第一导通模块接合或分离;所述供电开关通过供电电路与所述测试电路板连接,为所述测试电路板供电。
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