[发明专利]电子能量损失光谱仪有效

专利信息
申请号: 201580034881.1 申请日: 2015-06-25
公开(公告)号: CN106804114B 公开(公告)日: 2019-05-28
发明(设计)人: 亚历山大·约瑟夫·古本斯;科林·特雷弗;雷伊·达德利·特韦斯顿;梅勒妮·巴费尔斯 申请(专利权)人: 加坦公司
主分类号: H01J37/05 分类号: H01J37/05;H01J37/244;H01J37/28
代理公司: 成都虹桥专利事务所(普通合伙) 51124 代理人: 张竞
地址: 美国宾夕法尼*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种用于电子显微镜的电子能量损失光谱仪,其中,电隔离漂移管延伸穿过弯转磁铁,以及穿过将光谱聚焦且放大的后续光学器件。漂移管的前端、后端或前后两端设置有静电透镜或磁透镜,根据弯转磁铁漂移管的电压调节透镜,以保持恒定的净焦距,同时避免出现散焦。特定实施例中包含有能量选择狭缝,可彻底拦截分散在入射到检测器上的能量范围外的电子,从而消除向光谱散射回的多余电子造成的假象。
搜索关键词: 电子 能量 损失 光谱仪
【主权项】:
1.一种用于透射电子显微镜的电子能量损失光谱仪,包括:弯转磁铁,电隔离漂移管,具有入口端和出口端,并维持漂移管电位,靠近所述弯转磁铁,设置在所述电隔离漂移管一端或两端的静电透镜,根据所述漂移管电位调节所述静电透镜,从而在所述漂移管的一端或两端形成恒定净焦距,多个光学器件,用于在光谱仪中产生电子能量损失光谱的中间焦点,并放大投射到检测器上的能量损失光谱,以减少电子光学像差。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于加坦公司,未经加坦公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201580034881.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。

同类专利
  • 磁分析器单元-201811136620.2
  • 杨健;李天慧;黄晓橹 - 德淮半导体有限公司
  • 2018-09-28 - 2019-02-01 - H01J37/05
  • 本公开涉及一种磁分析器单元。该磁分析器单元包括:接收端开口,该接收端开口被构造为接收来自离子源的离子流;输出端开口,该输出端开口被构造为输出该离子流中的具有特定质荷比的离子;离子通道,该离子通道连接该接收端开口与该输出端开口,并且该离子通道包括至少一个U形通道区段;其中,该至少一个U形通道区段被布置在磁场中,该磁场被配置为使得具有特定质荷比的该离子能够通过该至少一个U形通道区段。
  • 一种扫描电子显微镜系统-201820888588.2
  • 李帅;何伟;王瑞平 - 聚束科技(北京)有限公司
  • 2018-06-08 - 2018-12-07 - H01J37/05
  • 本实用新型公开了一种扫描电子显微镜系统,包括:电磁交叉场分析器、由电透镜和磁透镜构成的复合物镜、镜后偏转装置和样品台;其中,电磁交叉场分析器,位于磁透镜的上极靴与产生入射至所述扫描电子显微镜系统的初始电子束的电子源之间,用于使入射的具有第一能量的初始电子束沿光轴运动,具有第二能量的初始电子束偏转至所述初始电子束的光轴两侧;复合物镜,用于对经所述电磁交叉场分析器作用的初始电子束进行汇聚,形成汇聚电子束;镜后偏转装置,位于所述磁透镜的下极靴孔内,用于改变所述汇聚电子束的运动方向,以使所述汇聚电子束倾斜入射至所述样品台上的待测样品。
  • 一种扫描电子显微镜系统及样品探测方法-201810589383.9
  • 李帅;何伟;王瑞平 - 聚束科技(北京)有限公司
  • 2018-06-08 - 2018-11-13 - H01J37/05
  • 本发明公开了一种扫描电子显微镜系统,包括:电磁交叉场分析器、由电透镜和磁透镜构成的复合物镜、镜后偏转装置和样品台;其中,电磁交叉场分析器,位于磁透镜的上极靴与产生入射至所述扫描电子显微镜系统的初始电子束的电子源之间,用于使入射的具有第一能量的初始电子束沿光轴运动,具有第二能量的初始电子束偏转至所述初始电子束的光轴两侧;复合物镜,用于对经所述电磁交叉场分析器作用的初始电子束进行汇聚,形成汇聚电子束;镜后偏转装置,位于所述磁透镜的下极靴孔内,用于改变所述汇聚电子束的运动方向,以使所述汇聚电子束倾斜入射至所述样品台上的待测样品。本发明还公开了一种样品探测方法。
  • 利用双维恩过滤器单色器的电子束成像-201580026256.2
  • 江欣荣;韩立群 - 科磊股份有限公司
  • 2015-05-22 - 2018-06-26 - H01J37/05
  • 一个实施例涉及一种双威恩过滤器单色器。第一威恩过滤器使电子束聚焦于第一平面中,同时使所述电子束在第二平面中平行。狭缝开口允许所述电子束的具有在能量范围内的能量的电子通过,同时阻挡所述电子束的具有在所述能量范围之外的能量的电子。第二威恩过滤器使所述电子束聚焦以变得在所述第一平面中平行,同时使所述电子束在所述第二平面中平行。还揭示其它实施例、方面及特征。
  • 一种改良带电离子维恩选择器-201720431601.7
  • 罗源;任粒;张纯;刘伟;伍玉娇 - 贵州理工学院
  • 2017-04-24 - 2017-12-01 - H01J37/05
  • 本实用新型公开了一种改良带电离子维恩选择器,包括有结构套管(2),结构套管(2)内设有绝缘套管(3),绝缘套管(3)内设有正负电极组(4),正负电极组(4)中的每一对电极单独连接电源;所述结构套管(2)外设有磁场发生器。相比现有的结构极为复杂的维恩选择器,大大降低了一些需要维恩选择器来进行实验的成本,并且本实用新型结构非常简单,易于制造。
  • 用于在具有束减速的离子注入器中进行束角度调整的系统和方法-201580067666.1
  • 伯·范德伯格;爱德华·艾伊斯勒 - 艾克塞利斯科技公司
  • 2015-12-28 - 2017-08-25 - H01J37/05
  • 离子注入系统(110)使用质量分析器(126)来进行质量分析和角度校正。离子源沿束路径产生离子束(124)。质量分析器放置在离子源的下游,所述质量分析器对离子束执行质量分析和角度校正。位于孔径组件(133)内的分辨孔径(134)位于质量分析器部件的下游并位于束路径上。分辨孔径具有根据所选择的质量分辨率以及离子束的束包络的尺寸和形状。角度测量系统(156)位于分辨孔径的下游并获得离子束的入射角值。控制系统(154)根据来自角度测量系统的离子束的入射角值导出针对质量分析器的磁场调整。
  • 用于高分辨率电子束成像的设备及方法-201710049531.3
  • 姜辛容;韩立群 - 科磊股份有限公司
  • 2013-04-02 - 2017-03-29 - H01J37/05
  • 本发明涉及用于高分辨率电子束成像的设备及方法。一个实施例涉及一种用于高分辨率电子束成像的设备。所述设备包含经配置以限制入射电子束中的电子的能量扩散的能量过滤器。所述能量过滤器可使用消像散维恩(Wien)过滤器及过滤器孔口而形成。另一实施例涉及一种形成用于高分辨率电子束设备的入射电子束的方法。另一实施例涉及一种包含弯曲导电电极的消像散维恩过滤器。另一实施例涉及一种包含一对磁轭及多极偏转器的消像散维恩过滤器。本发明还揭示其它实施例、方面及特征。
  • 磁分析器-201310114301.2
  • 郭楠;曹志伟 - 无锡华润上华科技有限公司
  • 2013-04-02 - 2017-02-15 - H01J37/05
  • 本发明公开了一种磁分析器,包括轭铁和设于轭铁外的磁铁,所述轭铁包围形成的离子飞行管道内设有束板,所述束板上开有多个穿透束板的离子通道,每个所述离子通道对应一特定质荷比离子的偏转半径。本发明能够一次性析出多种离子,实现了阱注入工艺多种离子的一次性注入,提高了离子注入的效率,降低了制造周期,提高了生产效率。
  • 一种超宽带状离子束产生装置及离子注入机-201310398888.4
  • 张赛;孙雪平;易文杰 - 中国电子科技集团公司第四十八研究所
  • 2013-09-05 - 2014-01-01 - H01J37/05
  • 本发明公开了一种超宽带状离子束产生装置及离子注入机。为了解决现有的超宽离子束的均匀性较差的问题,所述超宽带状离子束产生装置包括离子质量分析磁铁、分析光栏和离子束聚焦磁铁;所述离子质量分析磁铁具有斑状离子束穿过的空间;所述分析光栏具有从所述离子质量分析磁铁出来的汇聚的带状离子束穿行的空间;所述离子束聚焦磁铁具有从所述分析光栏出来的带状离子束穿行的空间;所述离子质量分析磁铁产生第一磁场,所述离子束聚焦磁铁产生第二磁场,所述第二磁场与所述第一磁场方向垂直。本发明在现有斑状离子源的基础上产生超宽带状离子束,并且达到质量分析的目的,并保证整个带状离子束宽度上不变。
  • 用于带形离子束的离子束弯曲磁体-201310110403.7
  • 希尔顿·F·格拉维斯;土肥正二郎;本杰明·托马斯·金 - 日新离子机器株式会社
  • 2013-04-01 - 2013-10-23 - H01J37/05
  • 本发明涉及用于带形离子束的离子束弯曲磁体。本发明提供适合于容纳且弯曲带形离子束的改进的弯曲磁体,所述带形离子束的横截面轮廓具有垂直于弯曲磁体的弯曲平面的主尺寸。离子束弯曲磁体提供了通过磁体的弯曲的路径以用于将带形离子束弯曲,所述带形离子束具有其垂直于磁体的弯曲平面的主横截面尺寸。磁体包括铁磁性轭,所述铁磁性轭围绕束路径且具有由四个成角度的边形成的横截面内轮廓。这些边与通过磁体的带形束的主尺寸成角度,使得轭的内轮廓在带形束的中心中相对宽而在带形束的顶部和底部边缘附近相对窄。靠着轭的内表面的电导体提供了沿轮廓的成角度的边的每单位长度均匀分布的电流,从而在磁体轭内提供了大体上均匀的磁性弯曲场。
  • 带电粒子的影像能量过滤器以及使用其的分光计-201080043248.6
  • 迪特马尔·丰内曼 - 迪特马尔·丰内曼
  • 2010-08-31 - 2012-07-04 - H01J37/05
  • 本发明涉及带电粒子影像能量过滤器,其具有带入口平面和出口平面的环状能量分析器,优选地具有半球状分析器。为了提供影像能量过滤器以及具有这样的影像能量过滤器的分光计,其具有更高水平的位置和角度分辨率,且可以更大的接受角度操作,根据本发明提出:提供用于带电粒子的镜子部件,且其被如此设置以使通过出口平面离开环状能量分析器的带电粒子由该镜子部件被反射回该环状能量分析器,从而该带电粒子又一次在相反进行方向穿过环状能量分析器。
  • 带有集成静电能量过滤器的带电粒子源-201110354511.X
  • A.亨斯特拉 - FEI公司
  • 2011-11-10 - 2012-05-23 - H01J37/05
  • 本发明公开了带有集成静电能量过滤器的带电粒子源。本发明涉及带有集成能量过滤器的带电粒子过滤器。其中所用的大部分过滤器具有高度弯曲的光轴,且因此使用具有难以制造的形式的部件,根据本发明的该源使用在直光轴周围的电极。令人吃惊的是,本发明者发现,倘若电极(114,116,120,122)中的一些形成为120°/60°/120°/60°,很可能使带电粒子束106a偏转离轴线104相当远,示出在能量选择狭缝108处显著的能量扩散,而不引入不能矫正的彗差或像散。这些电极能通过胶合或钎焊陶瓷而附连到彼此,且然后可例如通过火花腐蚀而形成高度同心的孔。
  • 新型大倾角单片式注入离子注入机离子光学系统-201010514043.3
  • 戴习毛;唐景庭;伍三忠;孙勇;刘世勇 - 北京中科信电子装备有限公司
  • 2010-10-13 - 2012-05-09 - H01J37/05
  • 本发明公开了一种新型大倾角单片式注入离子注入机离子光学系统,涉及离子注入机,属于半导体制造领域。所述的离子源,产生需要的各种离子;所述的源过滤磁铁,初次进行离子偏转筛选;所述的加速管,束能量加速或减速到所需注入的能量;所述的质量分析器,实现离子筛选功能;所述的分析光栏,为可调分析缝,使所需要的离子通过,对离子具有提纯作用;所述的偏转扫描系统,将束扩张水平带状束;所述的平行束透镜,使离子束校正为平行束;所述的大倾角单片靶盘,单片装载晶片,注入角度0°-60°可调。本发明可实现大倾角离子注入机的光学系统的要求,具有离子纯度高、离子能量精确度高、注入角度精确高、传输效率高等优点。
  • 像差校正阴极透镜显微镜仪器-200780006879.9
  • R·M·特罗普 - 国际商业机器公司
  • 2007-02-14 - 2009-03-18 - H01J37/05
  • 提供一种像差校正显微镜仪器。所述仪器具有用于接收第一非色散的电子衍射图形的第一磁偏转器(206)。第一磁偏转器还被构造为在第一磁偏转器的出射面(A2)内投影第一能量色散的电子衍射图形。在第一磁偏转器的出射面内设置有静电透镜(224)。第二磁偏转器(222)基本上与第一磁偏转器相同,其被设置用于接收来自静电透镜的第一能量色散的电子衍射图形。第二磁偏转器还被构造为在第二磁偏转器的第一出射面(B2)内投影第二非色散的电子衍射图形。电子反射镜(226)被构造为用于校正第二非色散的电子衍射图形内的一个或多个像差。电子反射镜被设置用于将第二非色散的电子衍射图形反射到第二磁偏转器,用于在第二磁偏转器的第二出射面(B3)内投影第二能量色散的电子衍射图形。
专利分类
×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top