[发明专利]一种用于检验非易失存储单元受干扰的方法及装置有效
| 申请号： | 201610006347.6 | 申请日： | 2016-01-06 |
| 公开（公告）号： | CN105702293B | 公开（公告）日： | 2019-09-17 |
| 发明（设计）人： | 苏香 | 申请（专利权）人： | 上海芯泽电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C16/34 | 分类号： | G11C16/34;G11C16/14 |
| 代理公司： | 上海翼胜专利商标事务所(普通合伙) 31218 | 代理人： | 翟羽 |
| 地址： | 201204 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种用于检验非易失存储单元受干扰的方法，其适用于非易失存储单元，所述方法包括以下步骤：a)设置计数器的计数值为一预设值；b)接收擦除块指令，所述擦除块指令中包含相应擦除块的地址信息；c)根据所述相应擦除块的地址信息执行擦除操作；d)根据计数器的当前计数值以确定所述相应擦除块所在的同一个块组的相应干扰块；e)对所述相应干扰块进行修复操作；f)将计数器的计数值加1，并返回步骤b)。本发明不仅可以节省时间，而且能够及时有效地检验并且修复被干扰的存储单元。同时，芯片在流片后能够大大缩减烧录时间成本，以及时将产品推向给客户。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 检验 非易失 存储 单元 干扰 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种用于检验非易失存储单元受干扰的方法，其适用于非易失存储单元，其特征在于，所述方法包括以下步骤：a)设置计数器的计数值为一预设值；b)接收擦除块指令，所述擦除块指令中包含相应擦除块的地址信息；c)根据所述相应擦除块的地址信息执行擦除操作；d)根据计数器的当前计数值以确定所述相应擦除块所在的同一个块组的相应干扰块；e)对所述相应干扰块进行修复操作；f)将计数器的计数值加1，并返回步骤b)；在步骤a)之前进一步包括：划分多个块组，每一所述块组包括多个块；其中在划分块组的过程中，以四的倍数将多个块构成一块组。
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