[发明专利]CPU器件测试图形向量的生成方法

摘要

本发明涉及CPU器件测试图形向量的生成方法，包括以下步骤：使用汇编语言或C语言分段编写源程序；软件仿真，形成最终源程序和存储器支持的可烧录文件；搭建由集成电路测试机和辅助电路板组成的开发系统；引导并运行最终源程序，输出结果；采集并记录CPU的输入输出信息，形成最初测试图形向量；摆脱辅助电路板，由集成电路测试机模拟外部存储器，生成测试图形向量。本发明通过集成电路测试机来模拟外部存储器，按照存储器的读写时序给CPU传输程序，这样不仅可以有效的避免外围器件的影响，还简化了测试程序，无需事先对CPU烧录程序，可直接上机测试。同时，采用分段编写源程序，既降低了源程序的复杂程度，又可以有效地进行故障定位。

主权项

一种CPU器件测试图形向量的生成方法，包括以下步骤：a.编写源程序：按照待测CPU器件的功能，使用汇编语言或C语言分段编写源程序；b.软件仿真：采用可对待测CPU器件进行软件开发的仿真软件对所述源程序进行仿真，在仿真结果与源程序设定结果不一致时修改源程序，直至两者结果一致，形成最终源程序和存储器支持的可烧录文件；c.搭建开发系统：搭建由集成电路测试机和辅助电路板组成的开发系统，所述辅助电路板包括锁存器、外部存储器和待测CPU器件插座，将所述可烧录文件烧录至外部存储器，将CPU器件管脚复用功能分时序分割，并提供电源、时钟、复位、时序控制等信息；d.引导并运行最终源程序：由外部存储器提供最终源程序，辅助电路板上锁存器将地址信号锁存，集成电路测试机提供控制信号合并地址和数据信息，并控制CPU器件上电复位后访问外部存储器，将最终源程序拷贝至片内，运行最终源程序，输出结果；e.形成最初测试图形向量：集成电路测试机采集并记录CPU器件的输入输出信息，保存为输出状态，形成最初测试图形向量；f.生成测试图形向量：摆脱辅助电路板，由集成电路测试机模拟外部存储器，提供CPU器件输入信息，根据CPU器件功能，分析采集到的地址锁存使能端和程序读选通信号的状态，区分复用管脚的分时状态，将最初测试图形向量中CPU器件的输入信息修改为输入状态，将复用管脚输入周期中的信号修改为输入状态，其余信息保持输出状态，生成测试图形向量。