[发明专利]一种核辐射剂量率的测量处理方法及核辐射检测设备有效

专利信息
申请号: 201610476305.9 申请日: 2016-06-24
公开(公告)号: CN106199671B 公开(公告)日: 2019-03-01
发明(设计)人: 高学志;袁丁;郑强;夏征 申请(专利权)人: 北京华泰诺安探测技术有限公司
主分类号: G01T1/02 分类号: G01T1/02
代理公司: 北京名华博信知识产权代理有限公司 11453 代理人: 李冬梅;苗源
地址: 101312 北京市顺义区临*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种核辐射剂量率的测量处理方法及核辐射检测设备,包括:进行辐射粒子检测,根据检测到的辐射粒子计算得到辐射剂量率,判断是否检测到辐射剂量率发生突变并且在X次检测过程中相比突变时刻均处于突变状态,如果是,在突变时刻至当前时刻的检测次数小于或等于M时,将从突变时刻至当前时刻的各辐射剂量率的平均值作为核辐射剂量率输出值并进行输出;如果否,根据当前的辐射剂量率与前M次检测到的辐射剂量率进行平均计算得到平均核辐射剂量率并输出。本发明的核辐射剂量率的测量处理方在连续平均计数法的基础上进行了改进,在环境辐射剂量率数值突变可以快速响应,实时性能好,检测效率高。
搜索关键词: 一种 核辐射 剂量率 测量 处理 方法 检测 设备
【主权项】:
1.一种核辐射剂量率的测量处理方法,其特征在于,包括:进行辐射粒子检测,根据检测到的辐射粒子计算得到辐射剂量率,判断是否检测到辐射剂量率发生突变并且在X次检测过程中相比突变时刻均处于突变状态,如果是,在突变时刻至当前时刻的检测次数小于或等于M时,将从突变时刻至当前时刻的各辐射剂量率的平均值作为核辐射剂量率输出值并进行输出,在突变时刻至当前时刻的检测次数大于M时,根据当前的辐射剂量率与前M次检测到的辐射剂量率进行平均计算得到平均核辐射剂量率并输出;如果否,根据当前的辐射剂量率与前M次检测到的辐射剂量率进行平均计算得到平均核辐射剂量率并输出;所述方法具体包括:步骤1,进行辐射粒子检测,根据检测到的辐射粒子计算得到辐射剂量率;根据当前的辐射剂量率与前M次检测到的辐射剂量率进行平均计算得到平均核辐射剂量率;步骤2,判断所述当前的辐射剂量率是否大于所述平均核辐射剂量率的N倍;如果是,判断突变指示参数是否是有效状态,如果不是有效状态,将当前时刻作为突变时刻,并将突变指示参数设置为有效状态,将突变累计参数设置为初始值,如果是有效状态,将突变累计参数累计固定间隔,转到步骤3,如果否,将步骤1中计算得到的所述平均核辐射剂量率作为核辐射剂量率输出值并进行输出,转到步骤1;步骤3,判断突变累计参数是否已累计X个固定间隔,如果是,将突变指示参数设置为无效状态,突变时刻至当前时刻的检测次数小于或等于M时,将从突变时刻至当前时刻的各辐射剂量率的平均值作为核辐射剂量率输出值并进行输出,突变时刻至当前时刻的检测次数大于M时,将当前的辐射剂量率与前M次检测到的辐射剂量率的平均值作为核辐射剂量率输出值并进行输出,转到步骤1,如果否,将步骤1中计算得到的平均核辐射剂量率作为核辐射剂量率输出值并进行输出,转到步骤1。
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