[发明专利]一种光散射法颗粒粒径分布反演的索套回归方法有效

专利信息
申请号: 201610492947.8 申请日: 2016-06-24
公开(公告)号: CN105928850B 公开(公告)日: 2018-08-07
发明(设计)人: 阮秀凯;谈燕花;蔡启博;朱海永;崔桂华;张耀举;戴瑜兴;刘泽华;黄立棋;劳立营;黄浩霖 申请(专利权)人: 温州大学
主分类号: G01N15/02 分类号: G01N15/02
代理公司: 长沙正奇专利事务所有限责任公司 43113 代理人: 马强;王娟
地址: 325035 浙江省温州市瓯海*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种光散射法颗粒粒径分布反演的索套回归方法,通过利用己知的激光波长、相对折射率和散射光强数据等信息获得测量区域内颗粒的粒径分布。本发明主要针光散射法粉尘颗粒检测中,实际的测量系统中散射光强分布数据是可通过测量装置得到,但是颗粒的粒径是未知的,需要进行反演获得的场合。主要针对用于颗粒粒径测量中粒径的反演问题种的搜索计算容易陷入局部最优、光能分布系数矩阵系数矩阵病态问题。在先验信息不充分的条件下,本发明方法相对于传统反演算法,反演得出的结果更可靠。
搜索关键词: 一种 散射 颗粒 粒径 分布 反演 回归 方法
【主权项】:
1.一种光散射法颗粒粒径分布反演的索套回归方法,其特征在于,利用下式求散射光在光电探测器环上的光能分布列向量E:其中,Γ为光能分布系数矩阵;W为颗粒分布矩阵;上标H表示矩阵或向量的共轭转置运算;表示2‑范数;D=diag[d(0),d(1),L,d(n)],j=0,1,L,n;α是拉格朗日因子,α>0;P为迭代总次数;W(l)为索套回归方法惩罚项,l=0,1,L,n。
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